技術參數(shù):
波長范圍:800nm-1100nm
透射比范圍:0%τ-120 %τ
光譜帶寬:2nm(在871.6nm處)
數(shù)據(jù)分辨率:0.3nm
探測器:1024元/2048元陣列電荷耦合器件(CCD)/光電二極管陣列(PDA)
主要技術指標
波長準確度:±1.0nm
波長重復性:≤0.1nm
雜散光:≤0.2%τ(830nm處)
透射比準確度:±1%τ
透射比重復性:≤0.5%τ
信噪比:0%τ處≤0.1% τ,τ處≤0.5%τ(900nm處)
采樣速度:大約0.3ms/scan
外設:通用計算機
探測器 :1024元 電荷耦合器件(CCD)/光電二極管陣列(PDA)
系統(tǒng)軟件
NIR-800近紅外光譜儀完成基本采集功能的數(shù)據(jù)采集軟件
配套分析軟件(可供用戶在現(xiàn)有化學計量學軟件基礎上進行二次開發(fā))
主要特點:
NIR-800近紅外光譜儀采用通用計算機進行控制,配備中文操作軟件,操作簡便,功能完善。單色器的光學系統(tǒng)采用交叉C-T結構(Crossed Czerny-Turner結構), 具有慧差小,象散低, 雜散光少等優(yōu)點,產(chǎn)品本身設計新穎,性能*,采用CCD或PDA陣列探測器,能夠測量被測物質吸收光譜、透過率光譜,完成多種基本測試功能。
:86-10—