J200 LA-LIBS 激光剝蝕-激光誘導擊穿光譜復合系統(tǒng)比較符合行業(yè)的要求和市場的需求性，在所有采樣點上提供相同的激光通量，并在所有采樣點上實現(xiàn)一致的激光剝蝕，可以快速繪制元素圖，J200采用了一種自動調(diào)高傳感器，該傳感器的設(shè)計考慮到了樣品表面的形態(tài)變化，分析人員可應(yīng)用單變量或多變量校準模型進行準確的定量分析，特定的搜索標準(波長范圍、元素組、等離子體激發(fā)狀態(tài))可以用來在短時間內(nèi)縮小搜索范圍。

元素的快速深度剖析：
在目標點的重復激光采樣過程中，Clarity LIBS分析軟件中的DepthTracker?能瞬時監(jiān)測所選元素的LIBS發(fā)射峰值強度，揭示不同樣品深度處元素組成的變化。DepthTracker?對于確定樣品表面的污染物、執(zhí)行涂層分析、了解薄膜結(jié)構(gòu)以及識別位于其下方的夾雜物是一項非常有價值的功能。

微粒沖洗性能：
根據(jù)測量目標(主要成分分析、包裹體分析、高分辨率深度分析、元素成像等)，有必要對樣品室的各個性能指標進行優(yōu)化，指標包括：沖洗時間、顆?；旌?、樣品室內(nèi)的流動特性。

J200 LA-LIBS 激光剝蝕-激光誘導擊穿光譜復合系統(tǒng)用完整的或特定范圍的LIBS光譜、質(zhì)譜圖，分析人員可創(chuàng)建譜庫，構(gòu)建有效、多元的校準模型，以準確檢測未知樣品的元素濃度，通過參考標準濃度值直接賦值給LIBS或ICP-MS強度，單變量校準曲線可輕松生成，雙攝像機，一個于高倍成像，另一個用于樣品表面的廣角觀察，雙路高精度數(shù)字質(zhì)量流量控制器和電子控制閥門，硬件部件的全面控制與測量自動化。

關(guān)鍵詞：傳感器質(zhì)量流量控制器控制閥

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激光剝蝕-激光誘導擊穿光譜復合系統(tǒng)

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