CHY-C2測(cè)厚儀-塑料薄膜-紙張-鋁箔-高精度測(cè)厚儀
CHY-C2測(cè)厚儀采用接觸式測(cè)量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。
CHY-C2測(cè)厚儀嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的接觸面積和測(cè)量壓力，同時(shí)支持各種非標(biāo)定制
CHY-C2測(cè)厚儀測(cè)試過程中測(cè)量頭自動(dòng)升降，有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差
支持自動(dòng)和手動(dòng)兩種測(cè)量模式，方便用戶自由選擇
實(shí)時(shí)顯示測(cè)量結(jié)果的*大值、*小值、平均值以及標(biāo)準(zhǔn)偏差等分析數(shù)據(jù)，方便用戶進(jìn)行判斷
配置標(biāo)準(zhǔn)量塊用于系統(tǒng)標(biāo)定，保證測(cè)試的精度和數(shù)據(jù)一致性
系統(tǒng)支持?jǐn)?shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、打印等許多實(shí)用功能，方便快捷地獲取測(cè)試結(jié)果
系統(tǒng)由微電腦控制，搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板，方便用戶進(jìn)行試驗(yàn)操作和數(shù)據(jù)查看
標(biāo)準(zhǔn)的RS232接口，便于系統(tǒng)的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸
支持Lystem™實(shí)驗(yàn)室數(shù)據(jù)共享系統(tǒng)，統(tǒng)一管理試驗(yàn)結(jié)果和試驗(yàn)報(bào)告
CHY-C2測(cè)厚儀該設(shè)備滿足多項(xiàng)國(guó)家和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：ISO 4593、 ISO 534、 ISO 3034、 GB/T 6672、 GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、 ASTM D1777、 TAPPI T411、 JIS K6250、 JIS K6783、 JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817
CHY-C2測(cè)厚儀應(yīng)用
基礎(chǔ)應(yīng)用 | 薄膜薄片 | 適用于塑料薄膜、薄片的厚度測(cè)試 |
| 紙張 | 適用于紙張、紙板的厚度測(cè)試 |
| 箔片、硅片、金屬片 | 適用于箔片、硅片、金屬片的厚度測(cè)試 |
| 紡織、無紡布材料 | 適用于紡織材料的厚度測(cè)試 |
| 固體電絕緣體 | 適用于固體電絕緣體的厚度測(cè)試 |
擴(kuò)展應(yīng)用 | 量程擴(kuò)展至5，10mm | 適用于測(cè)試薄膜、片材的厚度 |
| 測(cè)量頭為曲面 | 滿足特殊場(chǎng)合的厚度測(cè)試 |
CHY-C2測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
負(fù)荷量程 0 ～ 2 mm（常規(guī)）0 ～ 6 mm；12 mm （可選）
分辨率 0.1 μm
測(cè)量速度 10 次/min （可調(diào)）
測(cè)量壓力 17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（紙張）
接觸面積 50 mm2（薄膜）；200 mm2（紙張）注：薄膜、紙張任選一種；非標(biāo)可定制
電源 AC 220V 50Hz
外形尺寸 300 mm (L) × 275 mm (W) × 300 mm (H)
凈重 33 kg
CHY-C2測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置：主機(jī)、微型打印機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)量塊一件
CHY-C2測(cè)厚儀選購(gòu)件：專業(yè)軟件、通信電纜、配重砝碼盤、配重砝碼
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