Exquis T4直讀光譜儀，采用了特殊的光室結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，光室密封氬氣循環(huán)系統(tǒng)，CMOS全譜接收技術(shù)，全元素分析范圍等特點(diǎn)。融合了多項(xiàng)自主創(chuàng)新技術(shù),精工于內(nèi)、大道至簡(jiǎn),針對(duì)不同客戶的需求，而推出的這款充氬式全譜直讀火花光譜儀，可滿足Fe、Al、Cu、等多種金屬及其合金的材質(zhì)分析要求。
 
1鑄造 1冶金 1機(jī)械 1爐前 1金屬加工 1金屬材料質(zhì)量鑒定
 

全譜譜線圖
 
1CMOS全譜分析技術(shù)
 
豐富的譜線信息，分析靈敏線更多，保證分析的準(zhǔn)確度；
 
基于全譜測(cè)量的數(shù)據(jù)，能夠正確區(qū)分背景和譜線，有效提高測(cè)量精度；
 
智能選擇合適的靈敏線，通過(guò)多譜線結(jié)合技術(shù)，實(shí)現(xiàn)低中高含量段的檢測(cè)需求；
 
基于全譜測(cè)量數(shù)據(jù)的多峰擬合技術(shù)，有效消除譜線干擾，實(shí)現(xiàn)精確測(cè)量。
 
1
 
CMOS線陣傳感器
 
1的實(shí)時(shí)智能漂移校正技術(shù)
 
在分析過(guò)程中，適時(shí)進(jìn)行光譜漂移校正，增強(qiáng)儀器穩(wěn)定性；
 
減少標(biāo)準(zhǔn)化校正次數(shù)，延長(zhǎng)校正周期；
 
自動(dòng)完成儀器校正，操作更加簡(jiǎn)便。
 

 譜線漂移校正
 
1的CMOS檢測(cè)技術(shù)優(yōu)于CCD
 
CMOS相比CCD具有更高的靈敏度和響應(yīng)速度；
 
CMOS相比CCD具有更好的線性度；
 
CMOS相比CCD具有的紫外光敏感度，在深紫外區(qū)如碳、硫、磷、砷、氮等短波元素的檢測(cè)更準(zhǔn)確。
 

5 創(chuàng)CMOS全譜接收技術(shù)；
 
5 光室密封氬氣循環(huán)系統(tǒng)；
 
5 人性化一鍵激發(fā)，一鍵緊急停止；
 
5 一體化光室光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)；
 
5 可編程脈沖全數(shù)字光源技術(shù)；
 
5 可分析Fe、Al、Cu、等多種基體；
 
5 波長(zhǎng)范圍165-530mm,可滿足更多元素的分析要求。