InnovateT5型全譜直讀光譜儀采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)計(jì)和制造工藝技術(shù)，應(yīng)用了日本濱松公司CMOS信號(hào)采集元件，每塊CMOS都可以單獨(dú)設(shè)值火花個(gè)數(shù)，與國(guó)際光譜儀技術(shù)同步，采用真空光室設(shè)計(jì)及全數(shù)字激發(fā)光源。這款CMOS光譜儀，既包含了CCD光譜儀的全譜特性，又具備PMT光譜儀對(duì)非金屬元素的極低檢出限，整機(jī)設(shè)計(jì)合理，操作簡(jiǎn)單易學(xué)，具有數(shù)據(jù)精準(zhǔn)，長(zhǎng)期穩(wěn)定性好等優(yōu)點(diǎn)。
 
  1鑄造 1冶金 1機(jī)械加工 1消防 1航天航空 1金屬加工 1金屬材料質(zhì)量鑒定 1新材料開(kāi)發(fā)
 
T5
 
CCD+CMOS
 

 
全譜譜線圖
 
1CCD+CMOS全譜分析技術(shù)
 
 豐富的譜線信息，分析靈敏線更多，保證分析的準(zhǔn)確度；
 
 基于全譜測(cè)量的數(shù)據(jù)，能夠正確區(qū)分背景和譜線，有效提高測(cè)量精度；
 
 智能選擇合適的靈敏線，通過(guò)多譜線結(jié)合技術(shù)，實(shí)現(xiàn)低中高含量段的檢測(cè)需求；
 
 基于全譜測(cè)量數(shù)據(jù)的多峰擬合技術(shù)，有效消除譜線干擾，實(shí)現(xiàn)精確測(cè)量。
                     
1的實(shí)時(shí)智能漂移校正技術(shù)
 
 在分析過(guò)程中實(shí)時(shí)進(jìn)行光譜漂移校正，增強(qiáng)儀器穩(wěn)定性；
 
 減少標(biāo)準(zhǔn)化校正次數(shù)，延長(zhǎng)校正周期；
 
 自動(dòng)完成儀器校正，操作更加簡(jiǎn)便。
 

 
1的CMOS檢測(cè)技術(shù)優(yōu)于CCD
 
 CMOS相比CCD具有更高的靈敏度和響應(yīng)速度；
 
 CMOS相比CCD具有更好的線性度；
 
 CMOS相比CCD具有的紫外光敏感度，在深紫外區(qū)如碳、磷、硫、硼、砷、氮等短波元素的檢測(cè)更準(zhǔn)確。
 
紫外元素強(qiáng)度對(duì)比
 
                    
產(chǎn)品特點(diǎn)
 
5 創(chuàng)CMOS全譜接收技術(shù)；
 
5 人性化一鍵激發(fā)，一鍵緊急停止；
 
5 一體化光室光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)；
 
5 可編程脈沖全數(shù)字光源技術(shù)；
 
5 可分析Fe、Al、Cu、Zn、Ni、Ti、Mg、Co等多種基體；
 
5  波長(zhǎng)范圍140-680nm，可滿足更多元素的分析要求。