詳細(xì)介紹
高低溫試驗(yàn)箱-四川宏展測試設(shè)備
用途:
廣泛用于電工、電子、航天、航空、儀器儀表等行業(yè)作、材料、零部件設(shè)備等的加速濕熱試驗(yàn),交變溫度試驗(yàn),以便對試品在給定的環(huán)境條件下的行為性能作出評價(jià)。
設(shè)備滿足規(guī)范條件:
執(zhí)滿足標(biāo)準(zhǔn) 電工委員會標(biāo)準(zhǔn),IEC68-2-03_試驗(yàn)方法Ca_穩(wěn)態(tài)濕熱 電工委員會標(biāo)準(zhǔn),IEC68-2-01_試驗(yàn)方法A_冷 電工委員會標(biāo)準(zhǔn),IEC68-2-02_試驗(yàn)方法B_干熱 美國標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD-810F-507.4 濕度 美國標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD-810F-501.4 高溫 美國標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD-810F-502.4 低溫 美國標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD883C方法1004.2溫濕度組合循環(huán)試驗(yàn) 美國標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD810D方法502.2 美國標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD810方法507.2程序3 日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JIS C60068-2-3-1987 試驗(yàn)Ca:濕熱、穩(wěn)態(tài) 日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JIS C60068-2-2-1995 試驗(yàn)B:干熱 日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JIS C60068-2-1-1995 試驗(yàn)A:低溫 美國半導(dǎo)體行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JESD22-A101-B-2004 恒定溫濕度試驗(yàn) 美國半導(dǎo)體行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JESD22-A103-C-2004 高溫儲存試驗(yàn) 美國半導(dǎo)體行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JESD22-A119-2004 低溫儲存試驗(yàn) 中國國家標(biāo)準(zhǔn),GB/T 2423.1-2001 低溫 中國國家標(biāo)準(zhǔn),GB/T 2423.2-2001 高溫 中國國家標(biāo)準(zhǔn),GB/T 2423.3-1993 恒定濕熱試驗(yàn)方法 中國國家標(biāo)準(zhǔn),GB2423.34-86 溫濕度組合循環(huán)試驗(yàn) 中國國家標(biāo)準(zhǔn),GB/T2423.4-93方法 中國國家環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備方法,GJB150.9-8 濕熱試驗(yàn) |
高低溫試驗(yàn)箱-四川宏展測試設(shè)備 |
設(shè)備基本參數(shù):
◇型號規(guī)格及主要技術(shù)參數(shù) | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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公司設(shè)有環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備研究所,普遍采用三維CAD輔助設(shè)計(jì)技術(shù),局域網(wǎng)實(shí)現(xiàn)技術(shù)資源共享,充分利用互聯(lián)網(wǎng)進(jìn)行產(chǎn)品技術(shù)要求及設(shè)計(jì)方案等信息的迅速交流,標(biāo)準(zhǔn)化與自動化設(shè)計(jì)技術(shù)的應(yīng)用,深入研究與熟悉各項(xiàng)環(huán)境試驗(yàn)與試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)。因此,廣東宏展科技有限公司能高質(zhì)量、高速度地為客戶設(shè)計(jì)、制造、安裝調(diào)試各種規(guī)格與技術(shù)要求的高低溫試驗(yàn)箱。