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納米粒度及Zeta電位分析儀

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產(chǎn)品型號(hào)Nanolink SZ901

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更新時(shí)間：2022-09-15 10:14:14瀏覽次數(shù)：203次

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珠海真理光學(xué)儀器有限公司

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聯(lián)系人：王小姐（經(jīng)理）

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

Nanolink SZ901為新一代納米粒度和Zeta電位分析系統(tǒng)，采用動(dòng)態(tài)光散射(DLS)和電泳光散射(ELS)原理分別進(jìn)行納米粒度測(cè)量和Zeta電位分析，主要應(yīng)用于樣品的顆粒表征及樣品體系穩(wěn)定性及顆粒團(tuán)聚傾向性的檢測(cè)和分析。

詳細(xì)介紹

Nanolink SZ901系列是真理光學(xué)在SZ900基礎(chǔ)上基于多年的科研成果開發(fā)的新一代納米粒度和Zeta電位分析系統(tǒng)，采用動(dòng)態(tài)光散射(DLS)和電泳光散射(ELS)原理分別進(jìn)行納米粒度測(cè)量和Zeta電位分析，被廣泛應(yīng)用于有機(jī)或無(wú)機(jī)納米顆粒、乳液、高分子聚合物、膠束、病毒抗體及蛋白質(zhì)等樣品的顆粒表征及樣品體系穩(wěn)定性及顆粒團(tuán)聚傾向性的檢測(cè)和分析。

Nanolink SZ901的杰出性能和主要特點(diǎn)包括：

◆ 經(jīng)典90°動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)測(cè)量粒徑，測(cè)量范圍覆蓋0.3nm – 15μm

◆ 激光多普勒電泳技術(shù)用于Zeta電位分析，可準(zhǔn)確預(yù)知分散體系的穩(wěn)定性及顆粒團(tuán)聚的傾向性

◆ 加持自動(dòng)恒溫技術(shù)的zui大功率可達(dá)50mW, 波長(zhǎng)638nm的固體激光光源，儀器即開即用

◆ 自研的余弦擬合法（CFLS）優(yōu)于目前的頻譜分析法（FFT）和位相分析法（PALS）

◆ 自研的激光光源與照明光及參考光的一體化及光纖分束技術(shù)

◆ 自研的信號(hào)光與參考光的光纖合束及干涉技術(shù)

◆ 集成光纖技術(shù)的高靈敏度和極低暗電流(20cps)的光子檢測(cè)器

◆ 常規(guī)溫度控制范圍可達(dá)0°C - 90°C,zui高可選120°C, 精度±0.1°C

◆ 新一代高速數(shù)字相關(guān)器，動(dòng)態(tài)范圍大于1011

◆ 冷凝控制 – 干燥氣體吹掃技術(shù)

注：* 取決于樣品及樣品池選件

主要技術(shù)參數(shù)

測(cè)量原理	動(dòng)態(tài)光散射（DLS）、靜態(tài)光散射（SLS）、電泳光散射（ELS）
粒徑測(cè)量角度	90°
粒徑測(cè)量范圍	0.3nm -15μm*
粒徑準(zhǔn)確度	優(yōu)于±1% （平均粒徑，NIST可溯源標(biāo)準(zhǔn)樣品）
粒徑重復(fù)性	優(yōu)于±1% （平均粒徑，NIST可溯源標(biāo)準(zhǔn)樣品）
粒徑測(cè)量最小樣品濃度	0.1mg/ml
粒徑測(cè)量最小樣品量	3ul*
Zeta電位測(cè)量范圍	-600mV - +600mV
Zui大電導(dǎo)率	270mS/cm
適用Zeta電位測(cè)量的粒徑	3nm – 100μm*
電導(dǎo)率準(zhǔn)確度	±10%
分子量范圍	340Da-2 x 10⁷Da
溫度控制范圍	0°C - 90°C (120°C可選)
溫度控制精度	±0.1°C
光源	集成恒溫系統(tǒng)及光纖耦合的Zui大功率50mW, 波長(zhǎng)638nm固體激光器
相關(guān)器	高速數(shù)字相關(guān)器，自適應(yīng)通道配置
檢測(cè)器	高靈敏度APD
系統(tǒng)重量	17kg
外形尺寸	365mm x 475mm x 180mm（LxWxH）