詳細(xì)介紹
變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀是專門為高壓測(cè)試專業(yè)試驗(yàn)各種絕緣材料、絕緣套管,電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗因數(shù)(tgδ)和電容量(C)而設(shè)計(jì)的一種新型設(shè)備;它淘汰QS1高壓電橋,在強(qiáng)電場(chǎng)干擾情況下,利用單片機(jī)、微電子技術(shù),采用電子移相法和電源倒相法雙重抗干擾方法,*抑制強(qiáng)電場(chǎng)干擾,滿足強(qiáng)電場(chǎng)下使用要求,提高儀器測(cè)量的可靠性和準(zhǔn)確性。
介損測(cè)量是絕緣試驗(yàn)中很基本的方法,可以有效地發(fā)現(xiàn)電器設(shè)備絕緣的整體受潮劣化變質(zhì),以及局部缺陷等。在電工制造、電氣設(shè)備安裝、交接和預(yù)防性試驗(yàn)中都廣泛應(yīng)用。變壓器、互感器、電抗器、電容器以及套管、避雷器等介損的測(cè)量是衡量其絕緣性能的基本方法。全自動(dòng)干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀突破了傳統(tǒng)的電橋測(cè)量方式,采用變頻電源技術(shù),利用單片機(jī)、和現(xiàn)代化電子技術(shù)進(jìn)行自動(dòng)頻率變換、模/數(shù)轉(zhuǎn)換和數(shù)據(jù)運(yùn)算;達(dá)到抗*力強(qiáng)、測(cè)試速度快、精度高、全自動(dòng)數(shù)字化、操作簡(jiǎn)便;電源采用大功率開關(guān)電源,輸出45Hz和55Hz純正弦波,自動(dòng)加壓,可提供高10千伏的電壓;自動(dòng)濾除50Hz干擾,適用于變電站等電磁干擾大的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試。廣泛適用于電力行業(yè)中變壓器、互感器、套管、電容器、避雷器等設(shè)備的介損測(cè)量。
變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)
準(zhǔn)確度:Cx:±(讀數(shù)×1%+1pF)
tgδ:±(讀數(shù)×1%+0.00040)
抗干擾指標(biāo): 變頻抗干擾,在200%干擾下仍能達(dá)到上述準(zhǔn)確度
電容量范圍:內(nèi)施高壓:3pF~60000pF/10kV 60pF~1μF/0.5kV
外施高壓:3pF~1.5μF/10kV60pF~30μF/0.5kV
分辨率:高0.001pF,4位有效數(shù)字
tgδ范圍:不限,分辨率0.001%,電容、電感、電阻三種試品自動(dòng)識(shí)別。
試驗(yàn)電流范圍:10μA~1A
內(nèi)施高壓:設(shè)定電壓范圍:0.5~10kV
大輸出電流:200mA
升降壓方式:連續(xù)平滑調(diào)節(jié)
試驗(yàn)頻率: 45、50、55、60、65Hz單頻
45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動(dòng)雙變頻
頻率精度:±0.01Hz
外施高壓:正接線時(shí)大試驗(yàn)電流1A,工頻或變頻40-70Hz
反接線時(shí)大試驗(yàn)電流10kV/1A,工頻或變頻40-70Hz
CVT自激法低壓輸出:輸出電壓3~50V,輸出電流3~30A
測(cè)量時(shí)間:約40s,與測(cè)量方式有關(guān)
輸入電源:180V~270VAC,50Hz±1%,市電或發(fā)電機(jī)供電
計(jì)算機(jī)接口:標(biāo)準(zhǔn)RS232接口
打印機(jī):煒煌A7熱敏微型打印機(jī)
環(huán)境溫度:-10℃~50℃
相對(duì)濕度:<90%
外形尺寸:460×360×350mm
儀器重量:28kg
1.測(cè)量前準(zhǔn)備:
1)用接地線一端接儀器的接地柱,另一端接可靠的大地,保證儀器外殼處在地電位上。
2)正接線時(shí):將高壓電纜插頭插入后門HV插座中,將另一端的紅色大鉗子夾到被測(cè)試品的引線上,黑色小鉗子懸空或夾在紅色大鉗子上。將CX低壓電纜插入CX插座中,另一端的紅色夾子夾試品的低端,黑色夾子懸空或接屏蔽裝置。
3)反接線時(shí):將高壓電纜插頭插入后門HV插座中,將另一端的紅色大鉗子夾到被測(cè)試品的引線上,紅色小鉗子懸空或接屏蔽裝置。Cx插座不用。
2.打開電源開關(guān),儀器進(jìn)行自檢,若自檢良好,液晶屏顯示中文主菜單如
圖十所示。
3.菜單選擇:
1)按 鍵可移動(dòng)光標(biāo)至各菜單項(xiàng),并循環(huán)指示。被選中項(xiàng)反白字體顯示。選擇鍵的流程見圖十一所示。
2)在光標(biāo)當(dāng)前所示項(xiàng)目,按▼ ▲鍵鍵可進(jìn)行該項(xiàng)菜單的變更,并循環(huán)指示,流程見圖十二所示。
3)將菜單變更至與測(cè)試要求相對(duì)應(yīng)后即可按選擇鍵進(jìn)行下個(gè)項(xiàng)目的選擇。