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手持式 X 射線熒光測量儀 XAN ® 500
手持式 X 射線熒光測量儀 XAN ® 500
日本進(jìn)口fischer手持式 X 射線熒光測量儀 XAN ® 500
特征
- 便攜式熒光X射線膜厚測量及材料分析測量裝置
- 內(nèi)置硅漂移檢測器，精度高，檢測靈敏度高
- 無需移動(dòng)或切割待測物體即可在現(xiàn)場進(jìn)行快速、無損的檢測
主要規(guī)格
| 測量元件范圍 | 小號(hào) (16) - 小號(hào) (92) |
|---|---|
| X射線探測器 | 硅漂移探測器 (SDD) |
| X射線管 | 目標(biāo) |
| 初級(jí)過濾器 | 1種固定 |
| 準(zhǔn)直器數(shù)量/尺寸 | 1型固定/Φ2mm |
| 測量儀本體尺寸 | 210 x 75 x 230mm（寬 x 深 x 高） |
| 測量箱尺寸 | 380 x 220 x 385mm（寬 x 深 x 高） |
| 測量室尺寸 | 150 x 330 毫米 |
| 電池工作時(shí)間 | 約6小時(shí) |
主要應(yīng)用
- 機(jī)械零件、外殼等大型零件的膜厚測量
- 貴金屬手持測量
- 攜帶到電鍍廠現(xiàn)場測量
環(huán)保在線