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北京航天偉創(chuàng)設(shè)備科技有限公司
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更新時(shí)間:2022-08-08 21:30:45瀏覽次數(shù):190次
聯(lián)系我時(shí),請告知來自 環(huán)保在線介電常數(shù)測定儀適用于高分子復(fù)合材料、絕緣漆、尼龍制品材料、硅橡膠、硫化橡膠、橡膠、塑料、聚酯薄膜、聚四氟乙烯、環(huán)氧樹脂、電纜料、納米材料、導(dǎo)熱材料、硅膠片、絕緣材料、光伏材料、塑膠原料、高分析材料、功能膜材料、塑料制品、絕緣軟管、熱塑性塑料材料、板材和片狀材料、絕緣紙、軟管和軟套管、廣電新材料、聚合物材料、涂料涂層、纖維制品、PVA/PP/PE、通用塑料、工程塑料、塑料助劑
LDJD-B 介電常數(shù)測定儀
LDJD-C 介電常數(shù)測定儀
測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻
(包括米波波長在內(nèi))
下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法.
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了在15Hz-300MHz的頻率范圍內(nèi)測量電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)的方法,并由此計(jì)算某些數(shù)值,如損耗指數(shù)。本標(biāo)準(zhǔn)中所敘述的某些方法,也能用于其他頻率下測量。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于測量液體、易熔材料以及固體材料。測試結(jié)果與某些物理?xiàng)l件有關(guān),例如頻率、溫度、濕度,在特殊情況下也與電場強(qiáng)度有關(guān)。
有時(shí)在超過1000V的電壓下試驗(yàn),則會(huì)引起一些與電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)無關(guān)的效應(yīng),對此不予論述。
下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn),然而,鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的版本。凡是不注日期的引用文件,其版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。
IEC60247:1978 液體絕緣材料相對電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)和直流電阻率的測量
下列術(shù)語和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)。
3.1 相對電容率 relative permittivity
εr
電容器的電極之間及電極周圍的空間全部充以絕緣材料時(shí),其電容Cx與同樣電極構(gòu)形的真空電容C0之比:
…………(1)
式中:
εr——相對電容率;
Cx——充有絕緣材料時(shí)電容器的電極電容;
C0——真空中電容器的電極電容。
在標(biāo)準(zhǔn)大氣壓下,不含二氧化碳的干燥空氣的相對電容率εr等于1.00053。因此,用這種電極構(gòu)形在空氣中的電容Ca來代替C0測量相對電容率εr時(shí),也有足夠的精確度。
在一個(gè)測量系統(tǒng)中,絕緣材料的電容率是在該系統(tǒng)中絕緣材料的相對電容率εr與真空電氣常數(shù)ε0的乘積。
在SI制中,電容率用法/米(F/m )表示。而且,在SI單位中,電氣常數(shù)ε0為:
…………(2)
在本標(biāo)準(zhǔn)中,用皮法和厘米來計(jì)算電容,真空電氣常數(shù)為:
…………(3)
3.2 介質(zhì)損耗角 dielectric loss angle
δ
由絕緣材料作為介質(zhì)的電容器上所施加的電壓與由此而產(chǎn)生的電流之間的相位差的余角。
3.3 介質(zhì)損耗因數(shù) dielectric dissipation factor
tanδ
損耗角δ的正切。
3.4 〔介質(zhì)〕損耗指數(shù) [dielectric] loss index
εr”
該材料的損耗因數(shù)tanδ與相對電容率εr的乘積。
3.5 復(fù)相對電容率 complex relative permittivity
εr
由相對電容率和損耗指數(shù)結(jié)合而得到的:
………………(3)
………………(4)
………………(5)
………………(6)
式中:
εr——復(fù)相對電容率;
εr”——損耗指數(shù);
εr’、 εr——相對電容率;
tanδ——介質(zhì)損耗因數(shù)。
注 :有損耗的電容器在任何給定的頻率下能用電容Cs和電阻Rs的串聯(lián)電路表示,或用電容Cp和電阻Rp或電導(dǎo)Gp )的并聯(lián)電路表示。
并聯(lián)等值電路 串聯(lián)等值電路
……(7) ……(8)
式中:
Cs——串聯(lián)電容;
Rs——串聯(lián)電阻;
Cp——并聯(lián)電容;
Rp——并聯(lián)電阻。
雖然以并聯(lián)電路表示一個(gè)具有介質(zhì)損耗的絕緣材料通常是合適的,但在單一頻率下有時(shí)也需要以電容Cs和電阻Rs的串聯(lián)電路來表示。
串聯(lián)元件與并聯(lián)元件之間,成立下列關(guān)系:
………………(9)
………………(10)
………………(11)
式(9), (10), (11)中Cs、Rs、Cp、Rp、tanδ同式(7),(8)。
無論串聯(lián)表示法還是并聯(lián)表示法,其介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ是相等的。
假如測量電路依據(jù)串聯(lián)元件來產(chǎn)生結(jié)果,且tanδ太大而在式(9)中不能被忽略,則在計(jì)算電容率前必須先計(jì)算并聯(lián)電容。
本標(biāo)準(zhǔn)中的計(jì)算和側(cè)量是根據(jù)電流(ω=2πf)正弦波形作出的。
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