BRUKER Dektak 8探針輪廓儀

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更新時間：2023-04-02 14:19:16瀏覽次數(shù)：212次

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上海人和科學(xué)儀器有限公司

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產(chǎn)品簡介

Dektak8臺階式探針輪廓儀，結(jié)構(gòu)緊湊，可提供很高的重復(fù)性和精度。的XY方向定位系統(tǒng)可移動到8x8inch區(qū)域的任何位置。它不僅能測量臺階高度和表面紋理，還能測量金屬蝕..

詳細(xì)介紹

Dektak 8臺階式探針輪廓儀，結(jié)構(gòu)緊湊，可提供很高的重復(fù)性和精度。的X–Y方向定位系統(tǒng)可移動到8x8inch區(qū)域的任何位置。它不僅能測量臺階高度和表面紋理，還能測量金屬蝕刻速率的均勻性、焊點(diǎn)高度、纖維光學(xué)元件和顯微透鏡。全程程序控制的Dektak 8系統(tǒng)對于MEMS，納米技術(shù)和半導(dǎo)體應(yīng)用都非常方便。

主要特點(diǎn)：

1. 臺階高度測量重復(fù)性高
2. 是功能強(qiáng)大的探針輪廓儀，可限度的滿足各種應(yīng)用需要
3. 簡單易用
4. 作為一款桌面型輪廓儀，掃描范圍可達(dá)200mm

關(guān)鍵詞：輪廓儀

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