當(dāng)ROS生成過量時，有可能引起一系列有害事件。在高濃度下，ROS會誘導(dǎo)細胞內(nèi)氧化應(yīng)激反應(yīng)，導(dǎo)致細胞大分子如核酸、膜脂和細胞蛋白等的損傷。這些生物大分子的氧化損傷會觸發(fā)細胞凋亡，與衰老有關(guān)，并被認為是各種疾病、癌癥和神經(jīng)退行性疾病、糖尿病以及炎癥的發(fā)病機制之一。下圖是ROS的產(chǎn)生過程。

DCFH-DA

DCFH-DA，是一種活性氧檢測試劑。它是2',7'-二氯熒光二乙酸酯的衍生物，可以進入細胞內(nèi)，在那里它被脫乙酰化為非極性的、不帶電荷的2',7'-二氯熒光素（DCFH）。DCFH可以通過氧化作用被ROS氧化為高度熒光的2',7'-二氯熒光素（DCF）。因此，DCFH-DA可以用于測量ROS水平的變化，從而評估細胞內(nèi)氧化應(yīng)激的程度。

"Increased oxidative stress contributes to impaired peripheral CD56dimCD57+ NK cells from patients with systemic lupus erythematosus“這是一篇使用我們的DCFH-DA（#15204）發(fā)表的影響因子為4.6的文獻，文中使用10µM的DCFH-DA與細胞孵育，并使用流式細胞儀進行檢測。

圖示：外周CD56dimCD57+ NK細胞在SLE患者中表現(xiàn)出更高的氧化應(yīng)激。A GSEA圖顯示，在狼瘡NK細胞中ROS信號（富集圖：HALLMARK_REACTIVE_OXYGEN_SPECIES_PATHWAY）增加，與正常NK細胞（GSE63829）相比。B SLE患者（n = 14）和HC（n = 8）中CD56dimCD57+ NK細胞產(chǎn)生ROS的情況。C SLE患者（n = 14）和HC（n = 11）中CD56dimCD57+ NK細胞產(chǎn)生mtROS的情況。D GSEA圖顯示，在CD57 + NK細胞中ROS信號（富集圖：HALLMARK_REACTIVE_OXYGEN_SPECIES_PATHWAY）增加，與CD57-NK細胞（GSE23695）相比。E 比較SLE患者（n = 14）中CD56dimCD57+ NK細胞亞群和CD56dimCD57? NK細胞亞群的ROS水平。F 比較SLE患者（n = 14）中CD56dimCD57+ NK細胞亞群和CD56dimCD57? NK細胞亞群的mtROS水平。G SLE患者（n = 14）中CD56dimCD57+ NK細胞亞群中ROS水平與穿孔素表達的相關(guān)性。H SLE患者（n = 14）中CD56dimCD57+ NK細胞亞群中ROS水平與總細胞凋亡的相關(guān)性。I HC中CD56dimCD57+ NK細胞亞群和CD56dimCD57? NK細胞亞群暴露于20µM、40µM和80µM H2O2 24小時培養(yǎng)后的細胞凋亡水平比較（n = 5）。GSEA：基因集富集分析；ROS：反應(yīng)性氧化物；mtROS：線粒體反應(yīng)性氧化物。 (* P<0.05，** P <0.01，*** P <0.001) 文獻鏈接：Increased oxidative stress contributes to impaired peripheral CD56dimCD57+ NK cells from patients with systemic lupus erythematosus

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針對多種基團的活性氧（ROS）檢測試劑

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