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單晶X射線衍射儀(SC-XRD)

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更新時間：2023-05-04 22:46:24瀏覽次數(shù)：254次

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產(chǎn)品簡介

性能指標(biāo)X-射線光源:采用高強(qiáng)度微聚焦旋轉(zhuǎn)陽極光源，Cu靶，功率2.5KW，管電壓50kV，管電流50mA測角儀：四軸（Kappa,，2，）測角儀，?360旋轉(zhuǎn)0.02步長;?/2?步長0.002

詳細(xì)介紹

性能指標(biāo)

X-射線光源: 采用高強(qiáng)度微聚焦旋轉(zhuǎn)陽極光源，Cu靶，功率2.5K W，管電壓50kV，管電流50mA
測角儀：四軸（Kappa,ω，2θ，φ）測角儀，?360°旋轉(zhuǎn) ≤0.02°步長; ?/2? 步長≤0.002°；角度重現(xiàn)性±0.0001°
探測器：大面積photon II探測器，探測器有效面積14cm×10cm,探測器到樣品的距離馬達(dá)自動可調(diào)

主要應(yīng)用

精確測定小分子無機(jī)物、有機(jī)物、配合物以及蛋白質(zhì)大分子等晶態(tài)物質(zhì)的三維空間結(jié)構(gòu)(包括鍵長、鍵角、構(gòu)型、構(gòu)象乃至成鍵電子密度)及分子在晶格中的實際排列狀況
可提供晶體的晶胞參數(shù)、所屬空間群、晶體分子結(jié)構(gòu)、分子間氫鍵和弱作用的信息以及分子的構(gòu)型及構(gòu)象等結(jié)構(gòu)信息。
晶體X-射線衍射數(shù)據(jù)收集、數(shù)據(jù)處理（還原、校正）、晶體結(jié)構(gòu)解析、分子圖、分子堆積圖繪制等。

樣品要求

儀器說明

本儀器采用當(dāng)前技術(shù)，在化學(xué)結(jié)晶學(xué)領(lǐng)域準(zhǔn)確、快速測定晶體結(jié)構(gòu)，區(qū)分和確定晶體的手性及空間結(jié)構(gòu)。
可精確地測定小分子無機(jī)物、有機(jī)物、配合物以及蛋白質(zhì)大分子等的晶態(tài)物質(zhì)的結(jié)構(gòu)。
儀器包括：面探測器、高精度光學(xué)編碼器測角儀、高穩(wěn)定性的X射線發(fā)生器、高強(qiáng)度微聚焦旋轉(zhuǎn)陽極、計算機(jī)控制系統(tǒng)以及控制、數(shù)據(jù)收集和分析處理、維護(hù)等軟件和單晶結(jié)構(gòu)解析軟件。
該儀器可廣泛應(yīng)用于材料、化學(xué)化工、生命、醫(yī)藥、環(huán)境等各領(lǐng)域。

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