SEM2000是一款基礎(chǔ)款的多功能分析型鎢燈絲掃描電鏡。20?kV分辨率可以做到3.9?nm，支持升級30?kV電壓，可觀察亞微級尺度樣品的微觀結(jié)構(gòu)信息。擁有比臺式電鏡更大的移動范圍，適用于快速篩選待測樣品，更多的擴(kuò)展接口，可搭載BSED、EDS等附件，使應(yīng)用領(lǐng)域更廣。...

詳細(xì)介紹

SEM2000是一款基礎(chǔ)款的多功能分析型鎢燈絲掃描電鏡。20 kV分辨率可以做到3.9 nm，支持升級30 kV電壓，可觀察亞微級尺度樣品的微觀結(jié)構(gòu)信息。擁有比臺式電鏡更大的移動范圍，適用于快速篩選待測樣品，更多的擴(kuò)展接口，可搭載BSED、EDS等附件，使應(yīng)用領(lǐng)域更廣。

分辨率	加速電壓	放大倍數(shù)
3.9 nm @ 20 kV	0.5~20 kV （30 kV可選）	1~300,000x

產(chǎn)品特點(diǎn)

?簡潔的操作界面

? 純中文的操作界面

功能設(shè)計(jì)簡單易操作。符合國人使用習(xí)慣，即使是新手用戶，簡單了解后也能快速上手。

? 完善的自動化功能

自動亮度對比度、自動聚焦、自動像散，均可一鍵調(diào)節(jié)，提高工作效率。

? 豐富的測量工具

長度、面積、圓度、角度等測量功能強(qiáng)大的照片管理和預(yù)覽、編輯功能。

?特色功能

? 光學(xué)導(dǎo)航

想看哪里點(diǎn)哪里，導(dǎo)航更輕松

標(biāo)配光學(xué)導(dǎo)航攝像頭，可拍攝高清樣品臺照片，快速定位樣品。

? 防撞設(shè)計(jì)

對新手更友好的防碰撞設(shè)計(jì)，限度保護(hù)敏感單元。

? 一鍵成像

*軟件一鍵成像，新手也能輕松駕馭。

? 分析距離

分析距離和成像距離二合一，輕松體驗(yàn)優(yōu)質(zhì)性能。

?多種信息同時成像

SEM2000軟件支持一鍵切換SE和BSE的混合成像。可同時觀察到樣品的形貌信息和成分信息。

國儀量子 SEM2000鎢燈絲掃描電子顯微鏡

?分辨率指標(biāo)

國儀量子 SEM2000鎢燈絲掃描電子顯微鏡

?豐富的擴(kuò)展性

? 高靈敏度背散射探測器

- 多通道成像

探測器設(shè)計(jì)精巧，靈敏度高，采用4分割設(shè)計(jì)，無需傾斜樣品，可獲得不同方向的陰影像以及成分分布圖像。

- 二次電子成像和背散射電子成像對比

背散射電子成像模式下，荷電效應(yīng)明顯減弱，并且可以獲得樣品表面更多的成分信息。

? 能譜

金屬夾雜物能譜面掃分析結(jié)果。

? 電子背散射衍射

鎢燈絲電鏡束流大，滿足高分辨EBSD的測試需求，能夠?qū)饘?、陶瓷、礦物等多晶材料進(jìn)行晶體取向標(biāo)定以及晶粒度大小等分析。該圖為Ni金屬標(biāo)樣的EBSD反極圖，能夠識別晶粒大小和取向，判斷晶界和孿晶，對材料組織結(jié)構(gòu)進(jìn)行精確判斷。

應(yīng)用案例

國儀量子 SEM2000鎢燈絲掃描電子顯微鏡

產(chǎn)品參數(shù)

電子光學(xué)系統(tǒng)	電子槍類型	預(yù)對中型發(fā)叉式鎢燈絲電子槍
	分辨率	3.9 nm @ 20 kV（SE）
	分辨率	4.5 nm @ 20 kV（BSE）
	放大倍率	1 x～300,000 x
	加速電壓	0.5 kV～20 kV
成像系統(tǒng)	探測器	二次電子探測器（ETD）
	探測器	背散射電子探測器、能譜儀EDS等
	圖像保存格式	TIFF、JPG、BMP、PNG
真空系統(tǒng)	高真空	優(yōu)于5×10-4 Pa
	控制方式	全自動控制
	泵	機(jī)械泵×1，分子泵×1
樣品室	攝像頭	光學(xué)導(dǎo)航
	樣品臺配置	兩軸自動
	行程	X: 100 mm
	行程	Y: 100 mm
軟件	語言	中文
	操作系統(tǒng)	Windows
	導(dǎo)航	光學(xué)導(dǎo)航、手勢快捷導(dǎo)航
	自動功能	自動亮度對比度、自動聚焦、自動像散
	特色功能	智能輔助消像散、大圖拼接（選配軟件）
安裝要求	房間	長 ≥ 3000 mm，寬 ≥ 4000 mm，高 ≥ 2300 mm
	溫度	20 ℃～25 ℃
	濕度	≤ 50 %
	電氣參數(shù)	電源AC 220 V(±10 %),50 Hz,2 kVA