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日立TM系列專y能譜儀（EDS） Quantax75

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更新時(shí)間：2023-10-18 10:28:00瀏覽次數(shù)：162次

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)品說明：日立TM系列zhuan用能譜儀（EDS） Quantax75TM4000 系列根據(jù)應(yīng)用和預(yù)算提供多個(gè) EDS 系統(tǒng)供您選擇。所有檢測(cè)器均采用緊湊型設(shè)計(jì)，不需要 LN2。通過簡單操作即可迅速獲取彩色...

詳細(xì)介紹

日立TM系列zhuan用能譜儀（EDS） Quantax75TM4000 系列根據(jù)應(yīng)用和預(yù)算提供多個(gè) EDS 系統(tǒng)供您選擇。所有檢測(cè)器均采用緊湊型設(shè)計(jì)，不需要 LN2。通過簡單操作即可迅速獲取彩色X射線面分布移動(dòng)到制定位置，可實(shí)時(shí)確認(rèn)其譜圖雙屏顯示僅*選擇圖像和模板，即可在生成Word®、Excel®、面分布信息的同時(shí)，實(shí)時(shí)顯示點(diǎn)分析、線分析結(jié)果等
日立TM系列zhuan用能譜儀（EDS） Quantax75TM4000 系列根據(jù)應(yīng)用和預(yù)算提供多個(gè) EDS 系統(tǒng)供您選擇。所有檢測(cè)器均采用緊湊型設(shè)計(jì)，不需要 LN2。

通過簡單操作即可迅速獲取彩色X射線面分布
移動(dòng)到制定位置，可實(shí)時(shí)確認(rèn)其譜圖
雙屏顯示
僅*選擇圖像和模板，即可在生成Word®、Excel®、面分布信息的同時(shí)，實(shí)時(shí)顯示點(diǎn)分析、線分析結(jié)果等多種分析。

高的性能（hyper map）成就了一次測(cè)試即可獲取點(diǎn)分析、線分析、面分布結(jié)果點(diǎn)分析
可根據(jù)點(diǎn)位置移動(dòng)實(shí)時(shí)追蹤譜圖，輕松確認(rèn)目標(biāo)元素。

實(shí)時(shí)在線譜峰剝離面分布
分離出常規(guī)面分布圖像中的譜峰重疊元素，并顯示正確結(jié)果。

項(xiàng)目	內(nèi)容
探測(cè)器類型	硅漂移探測(cè)器
探測(cè)器面積	30 mm2
能量分辨率	148 eV (Cu-Kα) (Mn-Kα時(shí)不高于129 eV)
可檢測(cè)元素	B5～Cf98