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武漢科賽思機電有限公司
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產(chǎn)品型號ARE X
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更新時間:2023-02-13 10:13:16瀏覽次數(shù):634次
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測量殘余奧氏體的含量,對于熱處理的控制是非常重要的,X射線衍射法(XRD)是可以測量殘余奧氏體百分比含量低至0.5%的方法,殘余奧氏體的測量遵循國際標(biāo)準(zhǔn)ASTM E975-03規(guī)則。
殘余奧氏體 鋼的硬化過程是首先加熱到奧氏體相,然后淬火到室溫轉(zhuǎn)變?yōu)橛操|(zhì)的馬氏體相。奧氏體在高溫鋼中呈現(xiàn)面心立方結(jié)構(gòu)(FCC),冷卻時,鋼體大部分轉(zhuǎn)化為體心立方結(jié)構(gòu)(BCC)的鐵素體,或者轉(zhuǎn)變?yōu)轶w心正方結(jié)構(gòu)(BCT)的馬氏體。根據(jù)冷卻鋼的速率,會有一部分鋼仍為奧氏體(通常為0-40%),因此稱為殘余奧氏體。 奧氏體的結(jié)構(gòu)比鐵素體還有馬氏體的結(jié)構(gòu)都要大,如果在轉(zhuǎn)變過程中有殘余奧氏體存在,隨著時間的延長,產(chǎn)品中的殘余奧氏體會轉(zhuǎn)變?yōu)槠渌囿w,這些變化會導(dǎo)致產(chǎn)品的形狀發(fā)生改變。此外,其他的物理性能,如硬度和強度,都會隨著不同相體的轉(zhuǎn)變而發(fā)生變化,這些變化最終會影響到產(chǎn)品的使用壽命。
X射線衍射法來測量殘余奧氏體的百分比含量 X射線衍射法可以準(zhǔn)確測定鋼熱處理后殘余奧氏體的含量,能夠為鋼鐵熱處理過程控制提供可靠保證,提高產(chǎn)品質(zhì)量。 X射線衍射法是目前為止測量鋼體中殘余奧氏體含量最準(zhǔn)確的方法。根據(jù)ASTM E975-03的X射線測量鋼中殘余奧氏體近晶體隨機取向的標(biāo)準(zhǔn)方法,ARE X這款儀器能夠很輕松檢測出鋼體中殘余奧氏體的含量。 由于奧氏體相結(jié)構(gòu)與其他相的結(jié)構(gòu)不同,在不同的測試點,奧氏體會產(chǎn)生于鐵素體和馬氏體不同的衍射峰值。鋼中相的總數(shù)和與其衍射峰值的強度成正比。簡單來說,殘余奧氏體總的含量與奧氏體峰值的強度和其他相峰值強度比有關(guān)。我們利用X射線衍射儀采集四個衍射峰值來確定殘余奧氏體的濃度,兩個分別是鐵素體和馬氏體,兩個是奧氏體。通過四個峰值強度的對比可以獲得樣品中殘余奧氏體的百分比含量。 ARE X衍射儀可以測量奧氏體(220)(311)、鐵素體(200)(211)的衍射峰值強度,并分別提供四個奧氏體/鐵素體的峰值強度比。通過多衍射峰測量方式能夠減少晶體優(yōu)化取向的帶來的影響,同時對檢測到的碳化物干擾加以計算。
樣品制備 標(biāo)準(zhǔn)的金相濕研磨和拋光方法,表面拋光: 由碳化硅或氧化鋁砂紙 600 到 80 目; 表面研磨: 6 到 0.2 μ m 的金剛石或氧化鋁瓷。
ARE X衍射儀技術(shù)參數(shù)
儀器特性 符合國際標(biāo)準(zhǔn):ASTM E975-03 使用精密的自動反饋控制電路獲得的X射線發(fā)生器穩(wěn)定性。 自動調(diào)整高電壓與電流輸出脈動值。 大功率、優(yōu)質(zhì)的玻璃(陶瓷)X 射線管,電壓可至60KV。 高聚焦單毛細(xì)管準(zhǔn)直器。 2θ角度范圍:27 to 40°。 樣品臺尺寸:110 mm x 150 mm。 高分辨率CCD探測器。 采集時間:小于5分鐘。 雙安全防輻射電路模塊。 自帶校準(zhǔn)。 |
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