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MLT-30C圖像型硅片檢測(cè)顯微鏡

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更新時(shí)間：2023-01-28 09:51:46瀏覽次數(shù)：226次

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

MLT-30硅片檢測(cè)顯微鏡適用于對(duì)不透明物體進(jìn)行顯微觀察。儀器配置落射照明、長(zhǎng)距平場(chǎng)消色差物鏡、大視野目鏡，圖像清晰、襯度好，同時(shí)還配有內(nèi)置偏光觀察裝置。本儀器可用于鑒別和分析各種金屬和合金材料及非金屬物質(zhì)的組織結(jié)構(gòu)，廣泛應(yīng)用于電子、化工和儀器儀表行業(yè)觀察不透明的物質(zhì)。如金屬太陽(yáng)能板、多晶硅、單晶硅、太陽(yáng)能硅片檢測(cè)、集成電路、電子芯片、電路板、液晶板、鍍涂層，及其它非金屬材料，對(duì)一些表面狀況進(jìn)行......

詳細(xì)介紹

MLT-30C圖像型硅片顯微鏡

、用途：
MLT-30硅片顯微鏡適用于對(duì)不透明物體進(jìn)行顯微觀察。儀器配置落射照明、長(zhǎng)距平場(chǎng)消色差物鏡、大視野目鏡，圖像清晰、襯度好，同時(shí)還配有內(nèi)置偏光觀察裝置。本儀器可用于鑒別和分析各種金屬和合金材料及非金屬物質(zhì)的組織結(jié)構(gòu)，廣泛應(yīng)用于電子、化工和儀器儀表行業(yè)觀察不透明的物質(zhì)。如金屬太陽(yáng)能板、多晶硅、單晶硅、太陽(yáng)能硅片、集成電路、電子芯片、電路板、液晶板、鍍涂層，及其它非金屬材料，對(duì)些表面狀況進(jìn)行研究分析的工作等。本儀器系大專院校，科研機(jī)構(gòu)，工廠等的理想儀器。

二、系統(tǒng)簡(jiǎn)介

本系統(tǒng)是將精銳的光學(xué)顯微鏡技術(shù)、*的光電轉(zhuǎn)換技術(shù)、的計(jì)算機(jī)圖像處理技術(shù)地結(jié)合在起而開發(fā)研制成功的項(xiàng)高科技產(chǎn)品?？梢栽谟?jì)算機(jī)顯示器上很方便地觀察金相圖像，從而對(duì)金相圖譜進(jìn)行分分析，評(píng)級(jí)等對(duì)圖片進(jìn)行輸出、打印。

三、技術(shù)參數(shù)

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