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山東德瑞克儀器股份有限公司
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DRK203GB/T6672臺式高精測厚儀可測薄膜、箔片等,適用于塑料薄膜、薄片、隔膜、箔片、硅片等各種材料的厚度測量
DRK203 GB/T6672臺式高精測厚儀 可測薄膜、箔片等,適用于塑料薄膜、薄片、隔膜、箔片、硅片等各種材料的厚度測量。產品關鍵詞:測厚儀,薄膜測厚儀,機械接觸式薄膜測厚儀。
【依據標準】
DRK203 GB/T6672臺式高精測厚儀 可測薄膜、箔片等,符合以下標準:GB/T 6672、GB/T 、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777
【技術參數】
1. 測量范圍:0~3mm
2. 分辨率:μm 精度:1級
3. 測量速度:5次/min(可調);測頭移動速度:3mm/s(可調)
4. 接觸面積:28mm (直徑6mm) 非標可定制
【產品特點】
1. 接觸式測量
2. 測頭自動升降
3. 自動測量模式
4. 數據實時顯示、自動統(tǒng)計、打印
5. 顯示值、平均值和統(tǒng)計偏差
6. 標準接觸面積、標定壓強
7. 標準量塊標定測量參數
8. 數據分析功能
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