恒溫恒濕試驗(yàn)箱,又稱恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)、高低溫濕熱試驗(yàn)箱、濕熱試驗(yàn)箱,適用于對電工、電子及其他產(chǎn)品、零部件及材料進(jìn)行高低溫濕熱試驗(yàn)的環(huán)境試驗(yàn)箱設(shè)備,可滿足電工電子產(chǎn)品及設(shè)備等環(huán)境試驗(yàn) - 高溫試驗(yàn)/低溫試驗(yàn)/高低溫循環(huán)試驗(yàn)/溫度變化試驗(yàn)/濕熱試驗(yàn)/恒定濕熱試驗(yàn)/交變濕熱試驗(yàn)。
產(chǎn)品介紹
1.6.星拓恒溫恒濕試驗(yàn)箱設(shè)備證書
計(jì)算機(jī)軟件著作權(quán)登記證書:節(jié)能型可程式溫濕度控制系統(tǒng)V1.0
實(shí)用新型證書:
一種產(chǎn)品測試用環(huán)境模擬試驗(yàn)箱 (號(hào):ZL 2017 2 0229840.4)
一種密封型環(huán)境溫度試驗(yàn)箱裝置 (號(hào):ZL 2017 2 0208862.2)
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及方法
1)GB/T 10586-2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件;
2)GB/T 10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;
3)GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫 (IEC 60068-2-1:2007, IDT);
4)GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫 (IEC 60068-2-2:2007, IDT);
5)GB/T 2423.3-2016 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn) (IEC 60068-2-78:2012, IDT);
6)GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db 交變濕熱(12h+12h循環(huán))(IEC 60068-2-30:2005, IDT);
7)GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化 (IEC 60068-2-14:2009, IDT);
8)GJB 150.3-86 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分 高溫試驗(yàn);
9)GJB/T 150.4-86 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分 低溫試驗(yàn);
10)GJB/T 150.9-86 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第8部分 濕熱試驗(yàn)。
注:支持非標(biāo)定制