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X 射線熒光測量系統(tǒng)，國產(chǎn)涂層測厚儀，用于在生產(chǎn)過程中對薄鍍層如 CIGS、CIS 或 CdTe進(jìn)行連續(xù)在線測量和分析
特點
- 法蘭測量頭，安徽涂層測厚儀，用于在生產(chǎn)線中進(jìn)行連續(xù)測量
- X射線探測器可以為比例計數(shù)管，數(shù)字涂層測厚儀，珀耳帖制冷的硅 PIN 或硅漂移探測器
- 在生產(chǎn)過程中直接用典型產(chǎn)品進(jìn)行快速簡單校
- 可在真空或大氣中使用
- 可以在 500° C 的高溫基材上進(jìn)行測量
- 堅固和耐用是設(shè)計的重心
典型應(yīng)用領(lǐng)域
- 光伏技術(shù)（CIGS，牛津涂層測厚儀，CIS，涂層測厚儀廠家，CdTe）
- 分析對金屬帶、金屬薄膜和塑料薄膜上的鍍層
- 連續(xù)生產(chǎn)線
- 噴射和電鍍生產(chǎn)線監(jiān)測
- 測量大面積樣品
