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Hysitron PI 85L用于SEM的納米壓痕儀

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公司名稱武漢瑞德儀科技有限公司
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更新時(shí)間2022/10/19 15:52:50
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公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

武漢瑞德儀科技有限公司自2012年成立以來(lái)，憑借與布魯克、蔡司等大型科研儀器品牌的戰(zhàn)略合作關(guān)系，以及不斷優(yōu)化公司自身經(jīng)營(yíng)管理，提高服務(wù)質(zhì)量，成為中國(guó)國(guó)內(nèi)的儀器供應(yīng)商。武漢瑞德儀科技有限公司所提供的產(chǎn)品大都屬于高科技行業(yè)，產(chǎn)品包括元素成分分析系列、分子振動(dòng)光譜系列、力學(xué)測(cè)試及表面分析系列、半導(dǎo)體設(shè)備系列、測(cè)試設(shè)備系列、布魯克相關(guān)耗材（如布魯克AFM探針等），這些產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于工業(yè)、環(huán)境、能源、食品、生物、地質(zhì)、半導(dǎo)體、通訊、太陽(yáng)能、醫(yī)藥、藝術(shù)考古、刑偵等各個(gè)領(lǐng)域并服務(wù)于大型半導(dǎo)體等科技公司、各大院校、研究所、檢測(cè)機(jī)構(gòu)等。

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用于SEM的納米壓痕儀----深度傳感的納米力學(xué)測(cè)試儀器,可與掃描電子顯微鏡(SEM)聯(lián)用，原位納米力學(xué)測(cè)試儀器

Hysitron PI 85L用于SEM的納米壓痕儀產(chǎn)品信息

Hysitron PI 85L

布魯克的SEM PicoIndenter系列是深度感應(yīng)的納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)，專門設(shè)計(jì)用于與掃描電子顯微鏡（SEM、FIB/SEM）的高級(jí)成像能力聯(lián)用。有了這些系統(tǒng)，可以進(jìn)行定量納米力學(xué)測(cè)試，同時(shí)使用SEM進(jìn)行成像。Hysitron PI 85L SEM PicoIndenter 是一款專用的原位納米力學(xué)測(cè)試儀器，專為 SEM 使用而設(shè)計(jì)，但也適用于各種平臺(tái)和環(huán)境。該儀器采用布魯克電容式傳感器與極快的 78 kHz 控制系統(tǒng)配合使用，在納米尺度下提供的性能和穩(wěn)定性。緊湊的小尺寸設(shè)計(jì)使該系統(tǒng)非常適合腔體、拉曼和光學(xué)顯微鏡、同步輻射光束線等。

一、亮點(diǎn)

1）------性能、穩(wěn)定性和控制

提供超低噪音水平、極快的反饋控制和專有的 Q 控制軟件，用于主動(dòng)抑制振動(dòng)。

2）多功能------原位力學(xué)測(cè)試平臺(tái)

支持各種幾何尺寸樣品的的力學(xué)測(cè)試模式、多種控制模式和可更換壓頭。

3）緊湊------緊湊設(shè)計(jì)

為小腔室 SEM、拉曼和光學(xué)顯微鏡、光束線等提供易于安裝的理想系統(tǒng)。

二、特點(diǎn)

1）專為高性能和多功能性而設(shè)計(jì)

Hysitron PI 85L 的樣品臺(tái)設(shè)計(jì)能容納厚度達(dá) 10 mm 的樣品，同時(shí)提供三個(gè)方向（XYZ） 3 mm 范圍的精確樣品定位。此外，樣品和傳感器的機(jī)械耦合為納米力學(xué)測(cè)試提供了一個(gè)穩(wěn)定、剛性的平臺(tái)?？傊?，這種設(shè)計(jì)可實(shí)現(xiàn)的傾斜度和最小工作距離，在測(cè)試期間實(shí)現(xiàn)成像效果。

2）與 SEM 成像同步的原位力學(xué)數(shù)據(jù)

使用 Hysitron PI 85L 采集的原位力學(xué)數(shù)據(jù)與 SEM 成像同步，且并排顯示。同時(shí)進(jìn)行機(jī)械測(cè)量和SEM成像可全面了解材料變形行為。

3）精確使用各種模式探索材料變形行為

Hysitron PI 85L 可采用多種不同模式，在各種不同樣品中測(cè)試基本力學(xué)性能、應(yīng)力應(yīng)變行為、剛度、斷裂韌性和變形機(jī)制。

除了標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試模式外，PI 85L 還可以升級(jí)，并可使用可選模式進(jìn)一步擴(kuò)展其功能。從加熱選項(xiàng)到電特性，PI 85L 可根據(jù)您的需求進(jìn)行調(diào)整。

三、附件

提供泛的創(chuàng)新表征技術(shù)------選項(xiàng)和附件

1） SEM 和 TEM 加熱臺(tái)------直接測(cè)量和觀察熱導(dǎo)致的材料轉(zhuǎn)化；

2） 納米動(dòng)力學(xué)模式------施加振蕩力，持續(xù)測(cè)量粘彈性和疲勞特性，作為接觸深度、頻率和時(shí)間的函數(shù)

3）電學(xué)特性模塊(ECM)------在納米壓痕、壓縮或拉伸加載期間同時(shí)進(jìn)行原位電特性測(cè)量

4）壓轉(zhuǎn)拉模塊(PTP)------專為納米線和獨(dú)立薄膜而設(shè)計(jì)

四、相關(guān)圖片