X光鍍層測(cè)厚儀及ROHS原素分析儀是在XRF-2020系列測(cè)厚儀的基礎(chǔ)上增加了元素分析及有害物質(zhì)檢測(cè)的功能，其物點(diǎn)為：高分辨率，固態(tài)探測(cè)器;分析有害物質(zhì)，元素分析分之 ppm - 100％,符合RoHS / WEEE標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試以及ELV指令優(yōu)化的應(yīng)用;可測(cè)量多層鍍層厚度及錫鉛成分分析；電鍍?nèi)芤悍治?；定性分析超過(guò)30種元素,能夠測(cè)量液體，固體，粉末，薄膜和不規(guī)則形狀；貴金屬元素含量和分析（金，銀，鉑，和珠寶）；自動(dòng)過(guò)濾器，多準(zhǔn)直儀(五個(gè)準(zhǔn)直器，從0.1mm-3.0mm)和全自動(dòng)XYZ移動(dòng)樣品臺(tái)；性價(jià)比*的元素分析及鍍層測(cè)厚雙功能分析儀器