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鉑悅儀器(上海)有限公司 廣州辦事處
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更新時(shí)間:2018-05-14 09:00:00瀏覽次數(shù):733次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來自 環(huán)保在線M1 MISTRAL的應(yīng)用領(lǐng)域很廣,我們選擇常見的例子進(jìn)行介紹
測(cè)量鍍層樣品:
采用X射線熒光技術(shù)的M1 MISTRAL可以分析薄鍍層樣品,如印刷電路板、金屬或塑料件,包括單層鍍層和多層鍍層。XSpect軟件采用無標(biāo)樣基本參數(shù)法,可以同時(shí)基數(shù)按鍍層厚度和鍍層組成。使用標(biāo)準(zhǔn)樣品可以進(jìn)一步提高定量分析的準(zhǔn)確性
M1 MISTRAL的應(yīng)用領(lǐng)域很廣,我們選擇常見的例子進(jìn)行介紹
測(cè)量鍍層樣品:
采用X射線熒光技術(shù)的M1 MISTRAL可以分析薄鍍層樣品,如印刷電路板、金屬或塑料件,包括單層鍍層和多層鍍層。XSpect軟件采用無標(biāo)樣基本參數(shù)法,可以同時(shí)基數(shù)按鍍層厚度和鍍層組成。使用標(biāo)準(zhǔn)樣品可以進(jìn)一步提高定量分析的準(zhǔn)確性
測(cè)定鍍層樣品厚度及成分例如
Zn-Fe、Ag-Cu、Au-Ni-Cu、Cr-Ni-Cu、Au-Pb-Ni-Cu
珠寶及合金分析:
M1 MISTRAL是珠寶、硬幣及貴金屬的理想分析工具。所有珠寶合金、鉑族金屬及銀制品、不到1分鐘就可以確定其準(zhǔn)確成分。分析結(jié)果可以用百分含量或K(開)表示
M1 MISTRAL是采用X射線熒光技術(shù)的光譜儀,可對(duì)大件樣品和鍍層樣品進(jìn)行準(zhǔn)確的分析。分析的元素范圍:原子序數(shù)22號(hào)(鈦)以上的所有元素。分析的樣品類型:各類不同的材料,如金屬、合金、金屬鍍層包括多層鍍層樣品
樣品尺寸zui大可達(dá)100×100×100mm,無需任何處理,直接放在樣品臺(tái)上檢測(cè)。
光管位于樣品上方,測(cè)量過程中部接觸樣品,因此可以很容易地分析復(fù)雜式樣的樣品,如精工細(xì)作的珠寶和不容厚度的樣品。
M1 MISTRAL 是一款緊湊型的臺(tái)式 μ-XRF 光譜儀,用于分析塊狀材料和涂層。它的操作速度快、成本效益, 可以提供與材料元素成分有關(guān)的準(zhǔn)確信息。
該儀器具備高空間分辨率,光斑大小低至 100 微米。它可以分析任意形狀的樣品,例如zui復(fù)雜的珠寶,而無需進(jìn)一步的制備,更重要的是,它的分析是無損的。支持的樣品尺寸zui大可達(dá) 100x100x100 立方毫米。帶有交叉十字線的視頻顯微鏡,可以精確定位到您要測(cè)量的位置。電動(dòng) Z 型取樣臺(tái)允許快速聚焦??蛇x的 X-Y-Z 取樣臺(tái)甚至可以提供更大的舒適性。
M1 MISTRAL 配備了高亮度微焦點(diǎn) X 射線管,確保出色的激發(fā)測(cè)量光斑,產(chǎn)生高熒光效應(yīng)。憑借功能強(qiáng)大、易于使用的 XSpect 軟件套件,該儀器可交付準(zhǔn)確的量化結(jié)果,而不論是分析塊狀材料還是zui復(fù)雜的多層結(jié)構(gòu)。
· 適用于各種樣品類型和應(yīng)用領(lǐng)域
· 用于快速現(xiàn)場(chǎng)分析的便捷式系統(tǒng)
· 沒有基體或記憶效應(yīng)
運(yùn)行費(fèi)用低,無需任何介質(zhì)、處理或定期維護(hù)
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