小型高低溫測(cè)試箱常用于測(cè)試和試驗(yàn)確定電工、電子、電器及其它工業(yè)產(chǎn)品、材料進(jìn)行高低溫交變或恒定溫?zé)嵩囼?yàn)各種樣品在人為的溫度環(huán)境下使用、擺設(shè)、貯存的參數(shù)及性能。適合LED、光電、電器、通訊、電子、儀表、化學(xué)、車輛、塑膠制品、金屬、建材、醫(yī)療、食品、航天等制品檢測(cè)質(zhì)量或研發(fā)之用。

小型高低溫測(cè)試箱技術(shù)參數(shù)：

內(nèi)箱尺寸：W(寬)400 mm×H(高)500mm×D(深)400mm

溫度范圍：A:0℃~150℃；B:-20℃~150℃；C:-40℃~150℃；D：-70℃~150℃

波動(dòng)/均勻度：≤±0.5℃ /±2℃

外殼：304不銹鋼拉絲工藝處理或靜電噴涂可選，

內(nèi)壁：采用SUS304不銹鋼

保溫材料：硬質(zhì)聚氨脂發(fā)泡

觀察窗：發(fā)熱防汗多層真空大玻璃觀察視窗

調(diào)溫調(diào)濕：靜平衡制冷能量調(diào)節(jié)技術(shù)

加熱：不銹鋼翅片空氣加熱

測(cè)試孔：Φ50(帶軟質(zhì)耐老化橡膠塞)

照明燈：廣角照明防爆節(jié)能燈1組

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：

GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗(yàn)方法

GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法GB 2423.1-2008 (IEC68-2-1)

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法GB 2423.2-2008 (IEC68-2-2)