AS2855高頻絕緣材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)由S916測(cè)試裝置（夾具）、QBG-3E/QBG-3F/AS2853A型高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動(dòng)測(cè)量控件（裝入QBG-3E/QBG-3F或AS2853A的軟件模塊)、及LKI-1型電感器組成。依據(jù)國標(biāo)GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標(biāo)ASTM D150以及國際電工委員會(huì)IEC60250的規(guī)定設(shè)計(jì)制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動(dòng)測(cè)量的最佳解決方案。本儀器中測(cè)試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測(cè)樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測(cè)樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過公式計(jì)算得到。使用QBG-3E或AS2853A數(shù)字Q表具有自動(dòng)計(jì)算介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ）。

一、本設(shè)備適用標(biāo)準(zhǔn)

1 GBT 1409-2006 測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長存內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法

2 GBT 1693-2007 硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法

3 ASTM-D150-介電常數(shù)測(cè)試方法

4 GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的測(cè)試方法

二 AS2855介電常數(shù)/介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)系統(tǒng)組成：

1. 主機(jī)：AS2853A/QBG-3E/QBG-3F 高頻Q表

2. S916（數(shù)顯）介電常數(shù)ε_r和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測(cè)試裝置：

固體：材料測(cè)量直徑 Φ38mm； 厚度可調(diào) ≥ 15mm （二選一）  

液體：測(cè)量極片直徑 Φ38mm； 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm（選配）

3. LKI-1電感組

注意: 可定制100MHz電感.

AS2853A主機(jī)和QBG-3E/QBG-3F區(qū)別在于可以測(cè)試精度0.0001的材料介損值

三 AS2855高頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)主要測(cè)試材料:

1 絕緣導(dǎo)熱硅膠,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光學(xué)膠,環(huán)氧樹脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龍/滌綸,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等