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柜谷科技發(fā)展（上海）有限公司
主營產(chǎn)品： Brookfield質(zhì)構(gòu)儀,HAAKE擠出機(jī),日立掃描電鏡 |
公司信息
產(chǎn)品展示
Product| 產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱 | |||
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HF5000日立高新球差校正透射電鏡 掃描電子顯微鏡 簡單介紹：日立高新球差校正透射電鏡HF5000，具有高穩(wěn)定冷場發(fā)射電子槍，自動球差校正器，可一鍵操作實(shí)現(xiàn)自動球差校正，HAADF-STEM分辨率可以達(dá)到0.78埃；可配置EDS雙探頭，固體角可達(dá)2.0sr；具備TEM、STEM，SEM和電子衍射等多種圖像觀測模式；鏡筒和樣品臺經(jīng)過了重新設(shè)計(jì)，顯著提升了儀器的性能和穩(wěn)定性...... 產(chǎn)品型號：HF5000 所在地：上海市 更新時(shí)間：2023-11-22 |
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HT7800日立高新透射電鏡120kV 掃描電子顯微鏡 簡單介紹：日立高新透射電鏡120kV HT7800 日立新一代全數(shù)字化120kV透射電子顯微鏡HT7800，屬于日立瑠璃系列產(chǎn)品Ruli TEM，操作的一體化和自動化程度都有明顯提高。HT7800系列產(chǎn)品有兩個(gè)型號HT7800和HT7830。 產(chǎn)品型號：HT7800 所在地：上海市 更新時(shí)間：2023-11-20 |
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HD-2700日立高新球差校正掃描透射電子顯微鏡 簡單介紹：日立高新球差校正掃描透射電子顯微鏡 掃描透射顯微鏡HD-2700，配備了與德國CEOS GmbH公司（總經(jīng)理Max Haider先生）共同開發(fā)的球差校正儀，顯著提高了掃描透射電子顯微鏡的性能，更適合高級納米技術(shù)研究。由于球差校正系統(tǒng)校正了限制電子顯微鏡的性能的球差，使其與標(biāo)準(zhǔn)型號顯微鏡相比，分辨率提高了1.5倍，同時(shí)，探針電流提高了10倍。 產(chǎn)品型號：HD-2700 所在地：上海市 更新時(shí)間：2022-08-22 |
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HF-3300日立高新場發(fā)射透射電子顯微鏡 簡單介紹：日立高新場發(fā)射透射電子顯微鏡 HF-3300 日立的冷場發(fā)射電子源和300 kV加速電壓技術(shù)共同打造了超高分辨率成像和高靈敏度分析功能。雙棱鏡全息技術(shù)，空間分辨電子能量損失譜以及高精度平行納米電子束衍射技術(shù)開辟了高效，高精度樣品分析的新途徑。 產(chǎn)品型號：HF-3300 所在地：上海市 更新時(shí)間：2022-08-22 |
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