SunScan植物冠層分析儀(專業(yè)版)是一款簡便的測量和分析冠層中入射和透射光合有效輻射（PAR）的系統(tǒng)，提供了關于影響田間作物生長的限制因素的有價值的信息，如葉面積指數（LAI），專業(yè)版比標準版配置上增加了BF5日照傳感器，用來參照測量直接和散射的入射光，提高測量精度。

SunScan植物冠層分析儀(專業(yè)版)技術規(guī)格：

Sunscan探頭探測區(qū)域：100cm(長)×1.3cm(寬)，傳感器間距1.56cm

光譜范圍：400～700nm（PAR）

測量時間：120毫秒

讀數范圍：0～2500 μmol.m-2.s-1

分辨率：0.3 μmol. m-2.s-1

線性：優(yōu)于1%

精度：±10%

模擬輸出：1mV/μmol. m-2.s-1

通訊端口：RS232，9針D型接口

防護等級：IP65

工作溫度：0～60℃

尺寸：130×10×13cm

重量：1.7kg

供電：4節(jié)AA堿性電池，可以使用1年

掌上數據管理器：顯示屏1/4 VGA防日光顯示屏

操作系統(tǒng)：Windows 6

顯示選項：葉面積指數（LAI）、平均光合有效輻射、所有單個傳感器的讀數

防護等級：IP67

工作溫度：-30～+60℃

跌落高度：1.2米

供電：可充電電池，可連續(xù)使用12小時

內存：>100MB可用

尺寸規(guī)格：165×95×45毫米

重量：450克