日本電子 JXA-8530F 電子探針顯微鏡分析儀可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀X射線探測(cè)器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。日本電子新開發(fā)出的EPMA （電子探針）秉承近半個(gè)世紀(jì)的EPMA的發(fā)展歷史，JXA-8230具備用戶友好的操作、通過新式簡(jiǎn)單易用的PC 用戶界面提供完整范圍的高精度、快速分析，這是JEOL長(zhǎng)年來對(duì)高可靠性硬件不斷改良的結(jié)果。

詳細(xì)介紹

日本電子 JXA-8530F 電子探針顯微鏡分析儀可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀X射線探測(cè)器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。日本電子新開發(fā)出的EPMA （電子探針）秉承近半個(gè)世紀(jì)的EPMA的發(fā)展歷史，JXA-8230具備用戶友好的操作、通過新式簡(jiǎn)單易用的PC 用戶界面提供完整范圍的高精度、快速分析，這是JEOL長(zhǎng)年來對(duì)高可靠性硬件不斷改良的結(jié)果。JXA-8230電子探針是下一代能滿足多種需求的強(qiáng)力分析工具之一。 - EPMA快速啟動(dòng)，點(diǎn)擊任何一點(diǎn)，就能開始預(yù)設(shè)的EDS定性、定量分析或WDS分析。 - 用戶菜單（User recipes），能保存或調(diào)用經(jīng)常使用的各種不同類型的樣品分析條件，菜單中包括了全部的電子光學(xué)參數(shù)、EDS和WDS參數(shù)在內(nèi)。 - EDS 的性能，數(shù)字化脈沖處理器，全譜面分布(WD/ED, 樣品臺(tái)和電子束掃描)，無風(fēng)扇SDD (選配)
日本電子 JXA-8530F 電子探針顯微鏡分析儀PC平臺(tái)操作
快速啟動(dòng)
用戶菜單
“Point ﹠Click”分析功能
實(shí)時(shí)顯示重疊的X-射線圖像(WDS)
EDS 譜圖成像
新開發(fā)的、用于極輕元素分析的分光晶體
用FE電子槍進(jìn)行高空間分辨率成像
常規(guī)的EPMA的熱發(fā)射電子槍使用鎢或六硼化鑭燈絲，而場(chǎng)發(fā)射電子槍提供的探針直徑只有傳統(tǒng)的1/2～1/10。
FE電子槍即使在低加速電壓下使用大探針電流，也能夠提供小束斑，因此可以進(jìn)行高空間分辨率的WDS分析。
“Click Point Analysis”功能和用戶菜單（User,s recipe）
Click Point Analysis功能允許用戶只需簡(jiǎn)單地在二次電子像或背散射電子像上點(diǎn)擊任意一點(diǎn)，就能獲得WDS譜圖和半定量分析結(jié)果。用戶菜單（User,s recipe）能為訪問預(yù)設(shè)的分析條件提供方便，這些功能旨在通過這些zui簡(jiǎn)便的操作，zui大限度地提高FE-EPMA的效率。
的操作
用戶可以根據(jù)他們的研究目標(biāo)設(shè)計(jì)詳細(xì)的分析程序，如復(fù)雜的納米區(qū)域的元素定量分析。系統(tǒng)中集成了完整的應(yīng)用程序和易于使用的軟件包，提供了廣泛的數(shù)據(jù)分析方法和工具，例如，電子束追蹤功能可使極微小區(qū)域上長(zhǎng)時(shí)間的面分析、點(diǎn)分析更容易執(zhí)行，而無需擔(dān)心電子束漂移。
WD/ED組合系統(tǒng)
擁有使用方便的WD/ ED組合系統(tǒng)，納入了JEO*進(jìn)的WDS和EDS探測(cè)器，組合使用擅長(zhǎng)微量元素分析的WDS和廣受贊譽(yù)的EDS系統(tǒng)，JXA-8530F成為高效采集定量分析數(shù)據(jù)、高倍率電子束掃描面分布及大面積樣品臺(tái)掃描面分布的強(qiáng)有力工具之一。