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Planum-3000 平面光學(xué)元件光譜分析儀

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更新時間：2023-11-10 09:32:44瀏覽次數(shù)：103次

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蔚海光學(xué)儀器(上海)有限公司

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產(chǎn)品簡介

Planum-3000平面光學(xué)元件光譜分析儀用于快速測量各類平面光學(xué)元件的反射、透射光譜，可進(jìn)行多角度反射率、相對反射率、透射率測量，偏振光測量，膜性測量，顏色測量等

詳細(xì)介紹

Planum-3000平面光學(xué)元件光譜分析儀用于快速測量各類平面光學(xué)元件的反射、透射光譜，可進(jìn)行多角度反射率、相對反射率、透射率測量，偏振光測量，膜性測量，顏色測量等。

儀器特點：

自定義多角度透反射測量

測量對象：

棱鏡平行平板、平晶

濾光片紅外截止片

技術(shù)參數(shù)：

型號	Planum-3000
探測器	Hamamatsu背照式CCD陣列
檢測范圍	380-1100nm
波長分辨率	1nm
信噪比（全信號）	1000：1
相對檢測誤差	＜0.2%（410-900nm）
操作方式	自動
角度分辨率	＜0.0002°
重復(fù)定位精度	＜0.005°
旋轉(zhuǎn)速度	25°/s
透射測量角度	0-80°（小樣品0-50°）
反射測量角度	5-80°
單次測量時間量	＜1s
S/P光測量	支持
樣品尺寸	＞Φ3mm
操作系統(tǒng)/接口	Windows7~Windows10/ USB2.0
電源/功率	220V-50HZ /100W
其它	可自定義打印報表格式，開放式光學(xué)材料數(shù)據(jù)庫