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布魯克 Bruker PI 89 掃描電鏡納米壓痕儀

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更新時(shí)間：2022-10-23 16:31:22瀏覽次數(shù)：202次

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

The Hysitron PI 89 掃描電鏡聯(lián)用納米壓痕儀利用掃描電子顯微鏡（SEM、FIB/SEM）的成像能力，可以在成像的同時(shí)進(jìn)行定量納米力學(xué)測(cè)試。這套全新系統(tǒng)搭載 Bruker 的電容傳感技術(shù)，繼承了市場(chǎng)的批商業(yè)化原位 SEM 納米力學(xué)平臺(tái)的優(yōu)良功能。該系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)包括納米壓痕、拉伸、微柱壓縮、微球壓縮、懸臂彎曲、斷裂、疲勞、動(dòng)態(tài)測(cè)試和力學(xué)性能成像等功能。

詳細(xì)介紹

控制和性能

具有固有的位移控制，位移范圍從<1nm to 150µm，業(yè)界的力范圍從<1µN to 3.5N，和78kHz的反饋速率和39kHz的數(shù)據(jù)采集速率，從而記錄各種瞬態(tài)事件。

Hysitron PI 89的緊湊設(shè)計(jì)允許的樣品臺(tái)傾斜，以及測(cè)試時(shí)成像的最小工作距離。PI 89為研究者提供了比競(jìng)爭(zhēng)產(chǎn)品更廣闊的適用性和性能：

重新設(shè)計(jì)的結(jié)構(gòu)增加適用性和易用性
1 nm精度的線性編碼器實(shí)現(xiàn)更大范圍下更好的自動(dòng)測(cè)試定位重復(fù)性
更高的框架剛度(~0.9 x 106 N/m)提供測(cè)試過(guò)程更好的穩(wěn)定性
兩種旋轉(zhuǎn)/傾斜模式實(shí)現(xiàn)城鄉(xiāng)、FIB加工、以及各種探測(cè)器的聯(lián)用，包括EDS, CBD, EBSD, and TKD等。

關(guān)鍵詞：納米壓痕儀掃描電子顯微鏡

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