北京培科創(chuàng)新技術(shù)有限公司
詳細摘要： 簡介JED-2300TAnalysisStation是以圖像觀察和分析為基本理念的TEM/EDS集成系統(tǒng)
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2023-09-10 在線留言
詳細摘要： JED-2300/2300FAnalysisStation是以圖像觀察和分析為基本理念的TEM/EDS集成系統(tǒng)，通過與SEM的馬達驅(qū)動樣品臺聯(lián)動使用，可以進行大...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2023-09-09 在線留言
詳細摘要： 的JSM-7610F的光學(xué)系統(tǒng)經(jīng)過改進，實現(xiàn)了分辨率（15kV0.8nm、1kV1.0nm）的進一步提升，以嶄新的JSM-7610FPlus形象亮相
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2023-07-27 在線留言
詳細摘要： JSM-IT200是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2023-07-25 在線留言
詳細摘要： JEOLInTouchScope系列的新機型,采用新開發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng)，可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率；從設(shè)定視野...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2023-07-24 在線留言
詳細摘要： JSM-7200F的電子光學(xué)系統(tǒng)應(yīng)用了日本電子旗艦機-JSM-7800FPrime采用的浸沒式肖特基電子槍技術(shù)，標配TTLS系統(tǒng)（Through-The-Len...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2023-07-22 在線留言
詳細摘要： JEM-3200FS場發(fā)射電子顯微鏡配備了加速電壓為300kV的場發(fā)射電子槍（FEG）和鏡筒內(nèi)置式型能量過濾器，能為廣泛的研究領(lǐng)域提供各種全新的解決方案
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2023-03-01 在線留言
詳細摘要： 簡介從生物技術(shù)到納米技術(shù)、高分子和高新材料，JEM-1400Flash被廣泛應(yīng)用在多個領(lǐng)域，而且用途越來越廣
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2023-02-28 在線留言
詳細摘要： JEM-2100Plus電子顯微鏡，不僅擁有信譽的JEM-2100的電子光學(xué)系統(tǒng)，還增加了的控制系統(tǒng)，大幅提高了可操作性
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2023-02-27 在線留言
詳細摘要： 簡介NEOARM標配了日本電子獨自開發(fā)的冷場發(fā)射電子槍（Cold-FEG）和全新的高階球差校正器（ASCOR）
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2023-02-26 在線留言
詳細摘要： JEM-ARM300F實現(xiàn)了高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器，加速電壓可達300kV，是一款原子級分辨率電子顯微鏡
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2023-02-25 在線留言
詳細摘要： 以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的JEM-F200場發(fā)射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑，易用性強，外觀設(shè)計...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2023-02-24 在線留言
詳細摘要： JCM-7000臺式掃描電子顯微鏡是日本電子推出的一款臺式掃描電子顯微鏡，其不僅具有大型掃描電鏡的功能，相對于大型掃描電鏡其操作簡單，維護保養(yǎng)容易，體積小巧，價...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2022-11-15 在線留言
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