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昆山琦凡精密儀器有限公司
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產(chǎn)品型號ME-L
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地
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更新時間：2023-01-04 16:20:40瀏覽次數(shù)：533次
聯(lián)系我時，請告知來自 環(huán)保在線簡要描述：光學鍍膜橢偏儀ME-L 是一款科研級全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀，凝聚了頤光科研團隊在橢偏技術(shù)多年的投入，其采用行業(yè)前沿的創(chuàng)新技術(shù)，包括消色差補償器、雙旋轉(zhuǎn)補償器同步控制、穆勒矩陣數(shù)據(jù)分析等?？蓱?yīng)用于各種各向同性/異性薄膜材料膜厚、光學納米光柵常數(shù)以及一維/二維納米光柵材料結(jié)構(gòu)的表征分析。
價格區(qū)間 10萬-30萬 產(chǎn)地類別 國產(chǎn)
名 稱：光學鍍膜橢偏儀
型 號：ME-L
品 牌：頤光
光學鍍膜橢偏儀在手機蓋板中的應(yīng)用
光學鍍膜就好比女士化妝，不僅可使玻璃蓋板、背板更漂亮，也可以起到抗氧化、耐酸堿等作用，所以在如今這個“看臉”的時代，蓋板的光學鍍膜是非常重要的，目前常見的包括AR、AF、AG及后蓋顏色膜等鍍膜應(yīng)用。
光學鍍膜橢偏儀蓋板光學鍍膜痛點分析
1、AR膜透過率不合格NG
2、顏色膜調(diào)色困難，周期長。
3、量產(chǎn)過程產(chǎn)品不穩(wěn)定，存在色差。
橢偏儀在光學鍍膜各階段的作用
造成蓋板光學鍍膜產(chǎn)品不良的主要因素在于：
A；仿真設(shè)計調(diào)用材料折射率與鍍膜生產(chǎn)中實際材料折射率不符。
B；鍍膜設(shè)備實際鍍層厚度與膜系設(shè)計要求不符。
C；量產(chǎn)過程對鍍膜設(shè)備穩(wěn)定性/均勻性缺乏有效評估手段。
橢偏儀可以有效測量修正上述影響因子，為蓋板量產(chǎn)保駕護航。
1：膜系設(shè)計——膜層實際折射率的標定
★鍍膜實際折射率的影響因素：供氧量、真空度、電子槍光斑大小、溫度等
★橢偏儀可直接測量獲得薄膜材料的光學常數(shù)和薄膜厚度，因此通過鍍膜機在Si襯底或玻璃襯底上鍍單層SiO2、TiO2、Nb2O5、In薄膜，可直接準確測量獲得薄膜的光學常數(shù)。
★通過調(diào)整鍍膜機參數(shù)，以橢偏儀測量獲得的單層SiO2、TiO2、Nb2O5、In薄膜光學常數(shù)為反饋，將薄膜材料光學常數(shù)調(diào)整至狀態(tài)。此時對應(yīng)的鍍膜機參數(shù)即為厚度鍍膜時所需設(shè)定的終參數(shù)。
2：工藝研發(fā)——鍍膜設(shè)備tolling校正
★通常來說，鍍膜機通過晶振來控制鍍膜厚度，而實際上由于這種晶振式膜厚儀的精度不足，導致實際鍍膜厚度與設(shè)定鍍膜厚度存在較大偏差。在鍍膜機中，可通過工具因子（Tooling值）控制鍍膜機的蒸鍍速率，進而可對實際鍍膜厚度進行調(diào)控。
★橢偏儀可以準確測量獲得薄膜的厚度，因此可用于校正鍍膜機的工具因子（Tooling值），使實際鍍膜厚度與設(shè)定鍍膜厚度*。
3；量產(chǎn)監(jiān)控——實時監(jiān)測各項鍍膜指標
★鍍膜膜厚是否在設(shè)計范圍。
★材料折射率有無顯著波動。
★透過率是否滿足工藝需求。
★色度值是否滿足工藝需求。
★反射率是否滿足工藝需求。
光學鍍膜橢偏儀售后服務(wù)：
1、廠家貨源
貨源有保障，可以根據(jù)客戶不同測試需求，提供不同測試方案。
2、關(guān)于售后
4小時電話響應(yīng)，24小時內(nèi)安排。終生維護。
3、關(guān)于發(fā)貨
到款4-5天內(nèi)到貨，江蘇、深圳區(qū)域第二天可以到貨。
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