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產(chǎn)品型號
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地蘇州市
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更新時間:2024-04-20 11:47:49瀏覽次數(shù):98次
聯(lián)系我時,請告知來自 環(huán)保在線XAU系列X熒光光譜分析儀測量面積:最小0.03mm2鍍層分析:23層鍍層24種元素儀器特點:可手動變焦儀器優(yōu)勢:同元素不同層分析儀器簡介:XAU是一款設(shè)計結(jié)構(gòu)緊湊,模塊精密化程度的光譜分析儀,采用了下照式C型腔體設(shè)計,是一款一機多用型光譜儀
XAU系列X熒光光譜分析儀
測量面積:最小0.03mm2
鍍層分析:23層鍍層24種元素
儀器特點:可手動變焦
儀器優(yōu)勢:同元素不同層分析
儀器簡介:
XAU是一款設(shè)計結(jié)構(gòu)緊湊,模塊精密化程度的光譜分析儀,采用了下照式C型腔體設(shè)計,是一款一機多用型光譜儀。
應(yīng)用核心EFP算法和微光聚集技術(shù),既保留了專用測厚儀檢測微小樣品和凹槽的性能,又可滿足微區(qū)RoHS檢測及成分分析。
被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。
產(chǎn)品優(yōu)勢:
技術(shù)參數(shù):
1. 成分分析范圍:鋁(Al)- 鈾(U)
2. 成分檢出限:5ppm
3. 涂鍍層分析范圍:鋰(Li)- 鈾(U)
4. 涂鍍層檢出限:0.005μm
5. 最小測量直徑□0.1*0.3mm(最小測量面積0.03mm2)
標(biāo)配:最小測量直徑0.3mm(最小測量面積0.07mm2)
6. 對焦距離:0-30mm
7. 樣品腔尺寸:500mm*360mm*215mm
8. 儀器尺寸:550mm*480mm*470mm
9. 儀器重量:45KG
10. XY軸工作臺移動范圍:50mm*50mm
11. XY軸工作臺承重:5KG
應(yīng)用領(lǐng)域:
多元迭代EFP核心算法
專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊在Alpha和Fp法的基礎(chǔ)上,計算樣品中每個元素的一次熒光、二次熒光、靶材熒光、吸收增強效應(yīng)、散射背景等多元優(yōu)化迭代開發(fā)出EFP核心算法,結(jié)合的光路轉(zhuǎn)換技術(shù)、變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計及穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),只需要少量的標(biāo)樣來校正儀器因子,可測試重復(fù)鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機物層的厚度及成分含量。
單涂鍍層應(yīng)用:如Ni/Fe、Ag/Cu等
多涂鍍層應(yīng)用:如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等
合金鍍層應(yīng)用:如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等
合金成分應(yīng)用:如NiP/Fe,通過EFP算法,在計算鎳磷鍍層厚度的同時,還可精準(zhǔn)分析出鎳磷含量比例。
重復(fù)鍍層應(yīng)用:不同層有相同元素,也可精準(zhǔn)測量和分析。
如釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB,層Ni和第三層Ni的厚度均可測量。
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