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無錫好威無損檢測設備有限公司
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產品描述多軸高分辨率，帶有一個大尺寸探測器，用于從小型物體到大型物體的X射線數字實時成像及計算機斷層掃描（CT）檢測
產品描述
多軸高分辨率，帶有一個大尺寸探測器，用于從小型物體到大型物體的X射線數字實時成像及計算機斷層掃描（CT）檢測。
檢測臺結合機械手的創(chuàng)新設計，便于零部件的裝載，各種形狀、大小、重量（即使是超大型）的零部件，都能輕松完成裝載。
無縫鋼，鉛鋼結構的機柜不論從結實度還是從外觀上來講，在同行業(yè)中都是無二的。運動控制系統采用機床工藝技術，確保了設備的運轉壽命。
系統軟件：
·*的圖像采集、處理及存檔程序，用戶友好界面
·高性能圖像處理和測量功能
·多個通用圖像格式輸入/輸出
·用于快速分析的自動編程功能
·多窗口界面，顯示原始圖像、已處理圖像、密度數據等
·計算機斷層掃描采集模塊選件
·計算機斷層掃描校準、重建、可視化選
X射線源:
·電壓范圍：10kV~450kV
·最小焦點尺寸：<500nm
·X射線管類型：納米焦點、微焦點、小焦點、開放式或封閉式、投射式或折射式
X射線探測器:
·探測器種類：平板探測器、線性陣列探測器、圖像增強器
·等級選項：標準或高級的、14位或16位
·探測器尺寸：16"×16"（40cm*40cm
規(guī)格參數
X射線源:
·電壓范圍：10kV~450kV
·最小焦點尺寸：<500nm
·X射線管類型：納米焦點、微焦點、小焦點、開放式或封閉式、投射式或折射式
X射線探測器:
·探測器種類：平板探測器、線性陣列探測器、圖像增強器
·等級選項：標準或高級的、14位或16位
·探測器尺寸：16"×16"（40cm*40cm)
樣品操縱臺:
·樣本重量：200ibs(90kg)
·掃描行程（可根據用戶要求定制）：X軸=48“（122cm）,Y軸=33"(84cm),Z 軸（探測器源頭）=48"(122cm),傾斜軸=+20°/-15°,轉動軸=360°
·通過改變探測器行程調節(jié)焦距
·樣品操縱臺控制：
所有驅動器都采用可變速手柄控制
每個軸都是獨立控制的
·Control-X：可編程數控自動掃描系統，帶有圖像自動處理及存檔功能
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