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更新時(shí)間：2023-02-17 14:40:53瀏覽次數(shù)：330次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來自 環(huán)保在線日本Lasertec以雙共聚焦光學(xué)系為基礎(chǔ)，搭載微分干涉觀察，垂直白光干涉測定，相差干涉測定，反射分光膜厚測定等功能，通常多臺設(shè)備才能完成的測試，僅需一臺設(shè)備即可實(shí)現(xiàn)。
日本Lasertec以雙共聚焦光學(xué)系為基礎(chǔ)，搭載微分干涉觀察，垂直白光干涉測定，相差干涉測定，反射分光膜厚測定等功能，通常多臺設(shè)備才能完成的測試，僅需一臺設(shè)備即可實(shí)現(xiàn)。
關(guān)鍵詞：激光共聚焦顯微鏡,白光共聚焦顯微鏡,lasertec共聚焦顯微鏡
OPTELICS HYBRID+ 簡介：
日本Lasertec公司推出了Optelics混合共焦顯微鏡,將激光和白光源組合在一體,用于多功能高性能共聚顯微鏡.兩組共焦光學(xué)器件與附加器件相結(jié)合,包括干涉儀,微分干涉對比觀察和光譜反射膜厚度測量儀。
集6項(xiàng)功能于一體
應(yīng)用：各種材料的觀察和形狀測量可以進(jìn)行毫米級到納米級的非接觸、
非破壞性形狀測量和觀察。它可以處理廣泛的工業(yè)領(lǐng)域中的各種樣品。
工業(yè)領(lǐng)域：
半導(dǎo)體材料（Si、Sic、抗蝕劑）、器件、電子元件
MEMS、微制造零件、涂層材料
薄膜、有機(jī)/無機(jī)材料、光學(xué)元件、薄膜
生物領(lǐng)域：
微流道
導(dǎo)管、劃痕等異物
可用于從研發(fā)領(lǐng)域接近量產(chǎn)的領(lǐng)域。
功能介紹：
白光共聚焦功能
寬視野觀察提高效率
采用白光光源可以獲取高清全彩圖像，有助于觀察。
激光共聚焦功
高倍率和高分辨觀察
配備波長405nm的半導(dǎo)體激光器、無需預(yù)處理即可清晰采集納米級超精細(xì)結(jié)構(gòu)，分辨率堪比電子顯微鏡。
鈮酸鋰 倍率：11000倍 半導(dǎo)體部件 倍率：3700倍
微分干涉功能
納米級凹凸觀察
共聚焦和微分干涉對比（DIC）的組合提供了樣品細(xì)微缺陷的清晰化觀察，可不受背面影響的情況下觀察透明樣品的正面
共聚焦觀察 共聚焦微分干涉觀察
垂直掃描白光干涉功能
毫米視野下的納米級臺階高度測量
高度分布數(shù)據(jù)是通過獲取白光和雙光干涉物鏡在光軸方向掃描時(shí)產(chǎn)生的干涉條紋強(qiáng)度峰值處的z-scale值來計(jì)算的。該方法適用于寬視場測量，因?yàn)槔碚撋显谌魏畏糯蟊稊?shù)的物鏡下都具有相同的高度測量分辨率。
1.5mm視野下44nm的測量 數(shù)um高度下10nm-100nm高度測量
相移干涉測量功能
埃米級臺階高度測量
由于單波長光和兩光束干涉物鏡產(chǎn)生的干涉條紋是基于樣品表面的光程差分布，因此通過相位信息分析使用四個(gè)
相對于光軸不同位置的干涉條紋圖像來計(jì)算高度分布數(shù)據(jù)。
反射光膜厚測量功能
納米級透明膜厚測量
使用波長選擇功能測量6個(gè)波長的反射率，使用光學(xué)模型擬合計(jì)算膜厚。可以測量幾納米到1微米的單層/多層膜厚。由于測量區(qū)域是根據(jù)共焦觀察圖像的，因此可以計(jì)算亞微米微小區(qū)域到幾毫米整個(gè)視場的平均膜厚。此外，由于可以測量每個(gè)像素的膜厚，因此可以測量膜厚分布。
規(guī)格參數(shù)：
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