高經(jīng)理
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高經(jīng)理
SGW® X-4顯微熔點儀
主要技術參數(shù):
熔點測量范圍:室溫至320℃
測量重復性:±1℃ (在<200℃ 時)
±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 時)
溫度顯示zui小值: 1℃
熔點觀察方式 單目顯微鏡
光學放大倍數(shù) 40×
SGW® X-4顯微熔點儀
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