X射線熒光光譜儀
儀器照片 |
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儀器名稱 | X射線熒光光譜儀 |
儀器型號(hào) | Panalytical Axios |
生產(chǎn)廠家 | 荷蘭 |
技術(shù)參數(shù) | 分析范圍:O(8)-U(92);含量范圍:PPM- SST-mAX無衰減X光管及固態(tài)高壓發(fā)生器功率:4KW,60KW,160mA DOPS直接光學(xué)定位測(cè)角儀精確率:0.0001o 晶體:LiF200;PX-1;PE002,Ge111;LiF220;掃描方式:順序掃描 探測(cè)器:流氣式:3000Kcps;閃爍式:1500 Kcps |
應(yīng)用范圍 | 用于粉末,塊狀,粉末壓片,熔片,金屬非金屬樣品,空氣濾膜等樣品元素成分的定性定量分析以及無標(biāo)樣半定量分析,無損分析。 |
主要功能 | X射線熒光是原子內(nèi)產(chǎn)生變化所致的現(xiàn)象。內(nèi)層電子在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛,釋放出來,電子的逐放會(huì)導(dǎo)致該電子可曾出現(xiàn)相應(yīng)當(dāng)電子空位。這時(shí)處于高能量電子殼層的電子會(huì)躍遷到該低能量電子殼層來*相應(yīng)當(dāng)電子空位。由于不同電子殼層之間存在能量差距,這些能量上的差以二次X射線的形式釋放出來,不同元素所釋放出來的二次X射線具有特定的能量特性—特征波長(zhǎng)(定性分析基礎(chǔ));依據(jù)譜線強(qiáng)度與元素含量的比例關(guān)系進(jìn)行定量分析。 |
半定量分析 | |
樣品要求 | 寄送樣品須干燥處理;固體:尺寸要求(mm) 長(zhǎng)×寬:10×10 mm~200×200 mm 高:<100 mm;粉末:樣品均勻、粒度>200目,送樣質(zhì)量大于1 g。 |