場發(fā)射透射電子顯微鏡
儀器照片 | |
儀器名稱 | 場發(fā)射透射電子顯微鏡 |
儀器型號 | Tecnai G2 F20 |
生產(chǎn)廠家 | 美國FEI公司 |
儀器簡介 | Tecnai G2 F20是一個真正多功能、多用戶環(huán)境的200 kV工具。它以其將各種透射電鏡技術(shù)(包括TEM、EFTEM、Lorentz透鏡、STEM、EDX/EELS頻譜成像等)方便靈活地有機組合, 形成強大的分析功能, 而在同類型儀器中。任務(wù)導(dǎo)向型用戶界面和自動采集數(shù)據(jù)功能, 使用戶從必須首先成為電鏡專家才能獲得理想結(jié)果的壓力中解放出來, 使他們專注于自己的研究工作。Tecnai G2的“*一體化”概念允許在不同的操作模式和數(shù)據(jù)采集技術(shù)之間快速切換, 切換過程中系統(tǒng)自動調(diào)回所有相關(guān)的操作設(shè)置。 |
技術(shù)參數(shù) | 加速電壓:200 kV 很大放大倍數(shù):105萬倍 點分辨率:0.24 nm 線分辨率:0.14 nm STEM (HAADF)分辨率:0.19 nm 電子束能量色散:<0.7 eV 很大束流:>100 nA 1 nm束斑很大束流:>0.5 nA 樣品很大傾斜角:±40° 能量分辨率:~130 eV (Mn K線) EDAX能譜儀 (EDS):5B~92U |
設(shè)備功能 | 主要用于無機材料微結(jié)構(gòu)與微區(qū)組成的分析和研究,儀器的功能包括: 1、電子衍射:選區(qū)衍射、微束衍射、會聚束衍射 2、成像:衍襯像(明、暗場像)、高分辨像 (HREM)、掃描透射像(明場像) 3、微區(qū)成分:EELS和EDS能譜的點、線和面分析 4、微區(qū)化學(xué):EELS的元素價態(tài)、化學(xué)鍵、配位結(jié)構(gòu)和電子結(jié)構(gòu)分析 |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 材料范圍:除磁性材料之外的任何無機材料,包括粉體、薄膜和塊材;不適用于有機和生物材料 表征范圍:微觀形貌、顆粒尺寸、微區(qū)組成、元素分布、元素價態(tài)和化學(xué)鍵、晶體結(jié)構(gòu)、相組成、結(jié)構(gòu)缺陷、晶界結(jié)構(gòu)和組成等 |
檢測案例一 (形貌) |
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檢測案例二 (高分辨) | |
檢測案例三 (Mapping) |
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送樣要求 | 建議提供文獻圖片或者以前做過的圖片,如果沒有,檢測要求需詳細(xì)填寫。樣品可提供20張左右圖片:即篩選出三個比較好的區(qū)域,每個區(qū)域提供3-4張不同放大倍數(shù)滿足測試要求的圖片,對于找不到符合測試要求的區(qū)域的樣品,我們將會多拍一些區(qū)域以證明樣品的真實情況!寄送樣品質(zhì)量大20 mg。 |