X射線粉末衍射儀
儀器照片 | |
儀器名稱 | X射線衍射儀 |
儀器型號(hào) | 日本理學(xué) SmartLab 3KW |
儀器簡(jiǎn)介 | 高精度的測(cè)角儀可以保證在全譜范圍內(nèi)的每一個(gè)衍射峰的測(cè)量峰位和標(biāo)準(zhǔn)峰位的誤差不超過0.01度,*的一維陣列探測(cè)器可以提高強(qiáng)度150倍,不僅大幅提高設(shè)備的使用效率, 而且大幅提高了設(shè)備的探測(cè)靈敏度。 |
技術(shù)參數(shù) | 測(cè)量精度:±0.0001°; 測(cè)角儀半徑≥200 mm; 很小步長:0.0001° ; 角度范圍(2θ):-110~168°; 很大輸出:3 KW; 穩(wěn)定性:±0.01%; 管電壓:20~60 kV(1kV/1step); 管電流:10~60 mA。 |
儀器功能 | X射線衍射儀可以對(duì)樣品進(jìn)行物相定性和部分樣品的定量分析,可以測(cè)定精確的晶胞參數(shù)、簡(jiǎn)單晶體的晶體結(jié)構(gòu)、樣品的結(jié)晶度、微晶的粒度。利用相應(yīng)附件可以測(cè)定納米粒度、薄膜厚度;可以進(jìn)行斑點(diǎn)等小區(qū)域樣品進(jìn)行分析; |
在線測(cè)試系統(tǒng) |
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物相分析檢測(cè)案例 |
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樣品要求 | 粉末:樣品須干燥處理,粒度小于300目,質(zhì)量不少于0.1g; 塊體: 需加工出一平整的表面,尺寸約為20mm×20mm×2mm。 |